[发明专利]用于老化测试设备的测试板有效
| 申请号： | 201310062402.X | 申请日： | 2013-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN103293457A | 公开（公告）日： | 2013-09-11 |
| 发明（设计）人： | 吴孝镇;崔永培;金昌奎 | 申请（专利权）人： | 韩商联测股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11384 | 代理人： | 郑青松 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 老化 测试 设备 | ||
1.一种用于老化测试设备的测试板，其特征在于，包括：
多个插座，装载有要测试的半导体元件，以矩阵形态设置；
电路板，具有电路，该电路具有用于将来自测试基板侧的测试信号施加到所述多个插座的传送线路组；以及
连接器，结合在所述电路板的一侧，并与测试基板侧电连接，
所述多个插座中属于同一列的插座同时布置在一个传送线路组上，具有飞越式结构。
2.如权利要求1所述的用于老化测试设备的测试板，其特征在于，所述电路板的每个传送线路组中布置有至少两列插座。
3.如权利要求1所述的用于老化测试设备的测试板，其特征在于，所述电路板上的电路设定为：设置有所述多个插座的设置区域的阻抗不同于位于通过所述连接器传来的测试信号进入设置区域之前位置的未设置区域的阻抗。
4.如权利要求3所述的用于老化测试设备的测试板，其特征在于，设置区域的阻抗高于未设置区域的阻抗。
5.如权利要求4所述的用于老化测试设备的测试板，其特征在于，设置区域的阻抗和未设置区域的阻抗的差值设定为：当所述多个插座上装载有半导体元件时能够使所述设置区域的阻抗与未设置区域的阻抗相等。
6.如权利要求1所述的用于老化测试设备的测试板，其特征在于，所述传送线路组的末端被进行终止处理。
7.一种用于老化测试设备的测试板，其特征在于，包括：
多个插座，装载有要测试的半导体元件，以矩阵形态设置；
电路板，具有电路，该电路具有用于将来自测试基板侧的测试信号施加到所述多个插座的传送线路组；以及
连接器，结合在所述电路板的一侧，并与测试基板侧电连接，
所述传送线路组中的至少一个传送线路组中同时布置有至少两个插座，具有飞越式结构。
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