[发明专利]半导体元件检查装置用连接器及老化测试设备用测试板有效
| 申请号： | 201310061462.X | 申请日： | 2013-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN103293347A | 公开（公告）日： | 2013-09-11 |
| 发明（设计）人： | 金大敬;金进熙 | 申请（专利权）人： | 韩商联测股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11384 | 代理人： | 郑青松 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及半导体元件检查装置用连接器。根据本发明公开一种如下技术，即具备板状的接地板，进一步地，接地板的末端相比多个连接销的末端进一步朝母连接器侧突出，从而能够引导较细的销状的多个连接销的接触，由此可以防止多个连接销的损伤。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 元件 检查 装置 连接器 老化 测试 备用 | ||
【主权项】：
一种半导体元件检查装置用连接器，其特征在于，包括：以A×B行列形态排列的多个连接销，其中，A为大于1的自然数，B为大于2的自然数；至少一个板状的接地板，用于改善通过所述多个连接销传送的电信号的特性；容纳并支撑所述多个连接销和至少一个所述接地板的收容框架。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于韩商联测股份有限公司，未经韩商联测股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310061462.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
