[发明专利]半导体器件有效
申请号: | 201310059621.2 | 申请日: | 2013-02-17 |
公开(公告)号: | CN103367443A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 松本弘毅 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L27/06 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;张宁 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的实施例涉及一种半导体器件。本发明提供一种设计成防止电场集中于槽部附近的半导体器件。该半导体器件包括半导体层、源极区域、漏极区域、源极偏移区域、漏极偏移区域、槽部、栅极绝缘膜、栅极电极和嵌入区域。在平面图中在从源极偏移区域到漏极偏移区域的方向上,在平面图中在半导体层中的源极偏移区域与漏极偏移区域之间的至少一个位置提供槽部。栅极绝缘膜覆盖槽部的侧部和底部。在平面图中仅在槽部内提供栅极电极并且栅极电极接触栅极绝缘膜。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
【主权项】:
一种半导体器件,包括:半导体层;在所述半导体层中相互分离地提供的、第一传导性类型的源极区域和漏极区域;所述第一传导性类型的源极偏移区域以比所述源极区域和所述漏极区域的浓度更低的浓度形成为接触所述半导体层的所述源极区域;所述第一传导性类型的漏极偏移区域以比所述源极区域和所述漏极区域的浓度更低的浓度形成为接触所述半导体层的所述漏极区域而从所述源极偏移区域分离;在平面图中的从所述源极偏移区域到所述漏极偏移区域的方向上,在平面图中在所述半导体层中的所述源极偏移区域与所述漏极偏移区域之间的至少一个位置提供的槽部;栅极绝缘膜,覆盖所述槽部的侧部和底部;在平面图中仅在所述槽部内提供并且接触所述栅极绝缘膜的栅极电极;以及与所述第一传导性类型相反的第二传导性类型的嵌入区域,位于比所述源极区域和所述漏极区域更深处。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞萨电子株式会社,未经瑞萨电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310059621.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:高频电刀附件智能识别装置
- 下一篇:超声波图像诊断装置和超声波探头
- 同类专利
- 专利分类