[发明专利]一种珩磨机用测量系统及测量方法无效
| 申请号: | 201310057171.3 | 申请日: | 2013-02-22 |
| 公开(公告)号: | CN103358230A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
| 发明(设计)人: | 张广明;陈玉明;孙冬梅;袁宇浩 | 申请(专利权)人: | 南京工业大学 |
| 主分类号: | B24B49/02 | 分类号: | B24B49/02 |
| 代理公司: | 北京爱普纳杰专利代理事务所(特殊普通合伙) 11419 | 代理人: | 何自刚 |
| 地址: | 210000 江苏省南京市鼓楼*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 本发明属于珩磨机实用技术领域,公开了一种珩磨机用测量系统及测量方法,主要由靶标、激光扫描系统、视觉处理子系统、控制子系统和机械装置组成;本发明精度高,具有主动性,实时快速,工艺简单,机械部分仅由实现两个自由度的电机和固定摄像头、激光测距仪的安装支架组成,加工、安装方便。而且本发明还具有体积小重量轻的特点,可以很容易集成到其他系统中,作为一种功能单元存在,此外,本本发明操作简单,准确率高,有着很好的实际应用价值。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 珩磨机用 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】:
一种珩磨机用测量系统,其特征在于,所述珩磨机用测量系统包括:靶标,用于发送收集图像的指令;激光扫描系统,与所述靶标连接,用于对目标进行深度的测量;视觉处理子系统,与所述激光扫描系统连接,用于拍照和对图像的指令进行处理;控制子系统,与所述视觉子系统连接,用于对系统的各个设备进行控制;机械装置,与所述靶标、视觉处理子系统和控制子系统连接,用于对靶标、视觉处理子系统和控制子系统固定。
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