[发明专利]一种珩磨机用测量系统及测量方法

权利要求书

1.一种珩磨机用测量系统，其特征在于，所述珩磨机用测量系统包括：

靶标，用于发送收集图像的指令；

激光扫描系统，与所述靶标连接，用于对目标进行深度的测量；

视觉处理子系统，与所述激光扫描系统连接，用于拍照和对图像的指令进行处理；

控制子系统，与所述视觉子系统连接，用于对系统的各个设备进行控制；

机械装置，与所述靶标、视觉处理子系统和控制子系统连接，用于对靶标、视觉处理子系统和控制子系统固定。

2.如权利要求1所述的珩磨机用测量系统，其特征在于，所述视觉处理子系统还包括视觉处理计算、GIGE图像传送的千兆卡、工业相机。

3.如权利要求1所述的珩磨机用测量系统，其特征在于，所述控制子系统还包括控制计算机、驱动器、电机。

4.如权利要求3所述的珩磨机用测量系统，其特征在于，所述控制计算机内部设置GIGE子卡。

5.一种利用权利要求1所述的珩磨机用测量系统的测量方法，其特征在于，所述测量方法具体步骤为：

点到点、点到面、点到线、线与线、线与面、面与面的距离：将标靶的测头放在A点，将靶标的正面对准视觉测量系统，按下触发器，然后对于B点进行同样的方式操作，系统会自动地求算出AB两点的距离，精度达到0.03mm；

点到线的距离：将标靶的测头放在待测点，将靶标的正面对准视觉测量系统，按下触发器，得到待测点的坐标，在待测的平面上任取两个或两个以上的点，分别利用上述求待测点的方式进行抓取，获得直线的信息，最后系统会自动地求算出点到直线的距离。

6.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述测量方法还进一步包括以下骤：

在需要测量的平面上随机选取4个以上的不同线的测量点，测量点的选取尽量得分散，依次将标靶的测头放在待测点，将靶标的正面对准视觉测量系统，按下触发器，得到待测点的坐标，最后系统会自动地求算出点到平面度，平面度误差是指被测实际表面不平的程度，而平面在空间直角坐标系中，它的方程一般为：AX+BY+CZ+D＝0

若令a₁=A/C、a₂=B/C、a₃=D/C，则平面一般方程可写成为

Z=a₁X+a₂Y+a₃是平面方程线性回归的数学模型，称之为回归函数，

采用最小二乘法来估计模型式中的参数（a₁，a₂，a₃），令

F(a1,a2,a3)=Σi=1n(zi-a1xi-a2yi-a3)2]]>

其中，n为实测点数，则（a₁，a₂，a₃）的最小二乘估计应满足：

F(a^1,a^2,a^3)=mina1,a2,a3F(a1,a2,a3)]]>

至此，已经获得了一个平面方程

Z=a^1X+a^2Y+a^3.]]>