[发明专利]基体、电子器件的制造方法以及电子设备在审

专利信息
申请号: 201310056202.3 申请日: 2013-02-22
公开(公告)号: CN103296990A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 三上贤 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H03H9/15 分类号: H03H9/15;H03H9/10;H03H3/02
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供基体、电子器件的制造方法以及电子设备,不需要仅用于密封贯通部的工序,并且适合实现封装的小型薄型化。基体以及使用该基体的电子器件的制造方法的特征在于:所述基体具有可以搭载电子部件的搭载区域和环状的密封面,俯视所述区域,所述密封面围着所述区域,并且在所述密封面上固定着密封体,在所述密封面上存在贯通部,该贯通部是由所述密封体的壁面限定的凹部,并且在俯视时,该贯通部将所述搭载区域与所述密封面的外周侧之间连通。
搜索关键词: 基体 电子器件 制造 方法 以及 电子设备
【主权项】:
一种基体,其特征在于,该基体具有能够搭载电子部件的搭载区域以及环状的密封面,在俯视所述搭载区域时所述密封面围着所述搭载区域,在所述密封面上固定着密封体,在所述密封面上存在贯通部,该贯通部是由所述密封体的壁面限定的凹部,并且在俯视时,该贯通部将所述搭载区域与所述密封面的外周侧之间连通。
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