[发明专利]偏振光的检测方法有效
| 申请号： | 201310042255.X | 申请日： | 2013-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN103968948A | 公开（公告）日： | 2014-08-06 |
| 发明（设计）人： | 刘军库;李关红;李群庆;范守善 | 申请（专利权）人： | 清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01J4/04 | 分类号： | G01J4/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种偏振光的检测方法，具体包括以下步骤：提供一偏振光检测系统，其包括一光敏电阻、一电源及一检测装置，所述光敏电阻包括一第一电极层和一光敏材料层，所述检测装置包括一电流检测元件及一计算机分析系统；将一待测光照射到所述光敏电阻的表面；利用所述光敏电阻对该待测光进行偏振识别；利用所述电流检测元件检测所述光敏电阻中的电流变化；以及利用所述计算机分析系统分析得到该待测光的偏振信息。 | ||
| 搜索关键词： | 偏振光 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种偏振光的检测方法，其包括以下具体步骤：a) 提供一偏振光检测系统，其包括一光敏电阻、一电源及一检测装置，所述光敏电阻、电源和检测装置通过导线电连接形成一电流回路，所述光敏电阻包括一第一电极层和一光敏材料层，所述检测装置包括一电流检测元件及一计算机分析系统；b) 将一待测光照射到所述光敏电阻的第一电极层的表面；c) 利用所述光敏电阻对该待测光进行偏振识别；d) 利用所述电流检测元件检测步骤c中的电流变化；以及e) 利用所述计算机分析系统分析得到该待测光的偏振信息。
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