[发明专利]偏振光的检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种偏振光的检测方法。

背景技术

偏振光的检测需要有特定的偏振光检测系统来执行，一般的偏振光检测系统包括一光敏电阻、一设置于该光敏电阻前的偏振片、一电源及一检测装置。利用所述偏振片可识别待测光的偏振信息，利用所述光敏电阻可探测待测光的强度和分布等信息。

由于需要设置额外的偏振片，因此，一般的偏振光检测方法都较为繁杂，检测效率较低。

另外，为了获得高的灵敏度，一般的光敏电阻的电极常采用梳状图案，它是在一定的掩膜下向光敏材料薄膜的同一表面上蒸镀金、铜、铝等金属形成的。然而，由于这个金属电极本身不透光，光线只能通过梳状金属电极之间的空隙照射到光敏材料上，所述电极之间的空隙狭小，即该光敏电阻的受光面积较小，透光率较差，因此，对于微弱光探测的灵敏度不高。

发明内容

有鉴于此，确有必要提供一种偏振光的检测方法，该方法不仅简单易操作，可提高检测效率，还可用于微弱光的探测。

一种偏振光的检测方法，其包括以下具体步骤：

S1，提供一偏振光检测系统，其包括一光敏电阻、一电源及一检测装置，所述光敏电阻、电源和检测装置通过导线电连接形成一电流回路，所述光敏电阻包括一第一电极层和一光敏材料层，所述检测装置包括一电流检测元件及一计算机分析系统；

S2，将一待测光照射到所述光敏电阻的第一电极层的表面；

S3，利用所述光敏电阻对该待测光进行偏振识别；

S4，利用所述电流检测元件检测步骤S3中的电流变化；以及

S5，利用所述计算机分析系统分析得到该待测光的偏振信息。

进一步地，所述光敏电阻包括一第二电极层，所述第一电极层、光敏材料层和第二电极层层叠设置，构成一三明治结构，所述第一电极层和第二电极层分别设置于所述光敏材料层相对的两个表面上，且分别与所述光敏材料层电接触。

进一步地，所述第一电极层包括一第一碳纳米管薄膜结构，所述第一碳纳米管薄膜结构包括多个均匀分布的碳纳米管，所述多个碳纳米管沿同一方向择优取向排列。

相对于现有技术，本发明所提供的偏振光的检测方法具有以下优点：其一，由于所述光敏电阻的第一电极层中的碳纳米管薄膜结构具有各向异性的特点，即，所述第一电极层既具有电极的作用，又具有偏振片的作用，因此，本发明的检测方法不需要用到额外的偏振片，具有操作方便，高效的特点；其二，由于所述光敏电阻的第一电极层中的碳纳米管薄膜结构具有较高的透光率，因此，可以提高光敏电阻的灵敏度，即，本发明的检测方法可用于微弱光的探测。

附图说明

图1为本发明提供的光敏电阻的结构示意图。

图2为图1的光敏电阻中第一种碳纳米管薄膜结构的爆破图。

图3为图1的光敏电阻中第二种碳纳米管薄膜结构的爆破图。

图4为图1的光敏电阻中单层碳纳米管拉膜的扫描电镜照片。

图5为图1的光敏电阻应用于偏振光检测系统的示意图。

图6为利用图5的偏振光检测系统对偏振光进行检测的方法流程图。

主要元件符号说明