[发明专利]内存测试方法在审
| 申请号： | 201310024901.X | 申请日： | 2013-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN103943151A | 公开（公告）日： | 2014-07-23 |
| 发明（设计）人： | 陈育钲;张家维 | 申请（专利权）人： | 昆达电脑科技（昆山）有限公司;神达电脑股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种内存测试方法，其主要包括以下步骤：a.选择若干组测试条件及相应需测试的参数；b.计算提供到内存模块进行测试的信号的频率、电压、上升斜率及下降斜率；c.设定频率产生器产生的信号的频率、电压、上升斜率及下降斜率；d.设定需量测的信号的参数；e.将步骤c中设定好频率、电压、上升斜率及下降斜率的信号传送至内存模块中进行测试；f.判断是否量测到信号输出，若否，则继续量测；若是，则存储量测的信号的参数值；以及g.判断是否按设定的测试条件将测试参数测试完毕，若否，则返回步骤b，若是，则显示测试完毕后量测的参数值，并判断是否通过测试。本发明不仅节省测试时间，而且测试过程中出错少，测试效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种内存测试方法，其主要适用于对主板的内存模块进行测试，其特征在于，该方法主要包括以下步骤：步骤a.选择若干组测试条件及相应需测试的参数；步骤b.计算提供到内存模块进行测试的信号的频率、电压、上升斜率及下降斜率；步骤c.设定频率产生器产生的信号的频率、电压、上升斜率及下降斜率；步骤d.设定需量测的信号的参数；步骤e.将步骤c中设定好频率、电压、上升斜率及下降斜率的信号传送至内存模块中进行测试；步骤f.判断是否量测到信号输出，若否，则继续量测；若是，则存储量测的信号的参数值；以及步骤g.判断是否按设定的测试条件将测试参数测试完毕，若否，则返回步骤b，若是，则显示测试完毕后量测的参数值，并判断是否通过测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆达电脑科技（昆山）有限公司;神达电脑股份有限公司，未经昆达电脑科技（昆山）有限公司;神达电脑股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310024901.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
