[发明专利]内存测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试方法，尤其涉及一种性能优良的内存测试方法。

背景技术

内存是电脑的主要组成部分，直接决定电脑系统性能，一旦内存出现故障，便会造成系统读写错误，导致数据丢失，因而对内存进行测试尤为重要。

传统的内存测试方法弊端较多，不仅测试时间长，而且测试步骤繁琐。

发明内容

鉴于上述问题，本发明提供了一种不仅省时，而且出错少、测试效率高的内存测试方法。

为了达到上述目的，本发明采用了如下的技术方案：一种内存测试方法，其主要适用于对主板的内存模块进行测试，其中，该方法主要包括以下步骤：

步骤a.选择若干组测试条件及相应需测试的参数；

步骤b.计算提供到内存模块进行测试的信号的频率、电压、上升斜率及下降斜率；

步骤c.设定频率产生器产生的信号的频率、电压、上升斜率及下降斜率；

步骤d.设定需量测的信号的参数；

步骤e.将步骤c中设定好频率、电压、上升斜率及下降斜率的信号传送至内存模块中进行测试；

步骤f.判断是否量测到信号输出，若否，则继续量测；若是，则存储量测的信号的参数值；以及

步骤g.判断是否按设定的测试条件将测试参数测试完毕，若否，则返回步骤b，若是，则显示测试完毕后量测的参数值，并判断是否通过测试。

较佳的，本发明提供了一种内存测试方法，其中，所述步骤g中将量测的参数值制作成表格显示。

较佳的，本发明提供了一种内存测试方法，其中，所述步骤c中所述频率产生器产生的信号为方波。

较佳的，本发明提供了一种内存测试方法，其中，所述步骤a中所述需测试的参数主要包括频率、电压、上升斜率及下降斜率。

较佳的，本发明提供了一种内存测试方法，其中，所述步骤e所述的信号传送至内存模块中依据英特尔测试规范进行测试。

相较于先前技术，本发明提供了一种内存测试方法，不仅节省测试时间，而且测试过程中出错少，测试效率高。

附图说明

图1为本发明的流程图

具体实施方式

请参照图1所示，为本发明的流程图。本发明提供了一种内存测试方法，不仅节省测试时间，而且测试过程中出错少，测试效率高。

其中，该内存测试方法主要适用于对主板的内存模块进行测试，其主要包括以下步骤：

步骤101.选择若干组测试条件及相应需测试的参数；

步骤102.计算提供到内存模块进行测试的信号的频率、电压、上升斜率及下降斜率；

步骤103.设定频率产生器产生的信号的频率、电压、上升斜率及下降斜率；

步骤104.设定需量测的信号的参数；

步骤105.将步骤103中设定好频率、电压、上升斜率及下降斜率的信号传送至内存模块中进行测试；

步骤106.判断是否量测到信号输出，若否，则继续量测；若是，则到步骤107：存储量测的信号的参数值；以及

步骤108.判断是否按设定的测试条件将测试参数测试完毕，若否，则返回步骤102，若是，则到步骤109：显示测试完毕后量测的参数值，并判断是否通过测试。

又，所述步骤108中将量测的参数值制作成表格显示，所述步骤103中所述频率产生器产生的信号为方波，所述步骤101中所述需测试的参数主要包括频率、电压、上升斜率及下降斜率，所述步骤105所述的信号传送至内存模块中依据英特尔测试规范进行测试。

该频率产生器产生方波讯号，此方波讯号依照英特尔测试规范条件输入最大值、最小值及Fdge time(边缘时间)，产生的方波讯号送入存储有上述内存测试方法程序的测试治具，该测试治具即仿真动态负载，并将该测试治具插接于待测主板中的内存插槽上，以便依据英特尔测试规范条件进行测试。