[发明专利]内存测试方法在审
| 申请号： | 201310024901.X | 申请日： | 2013-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN103943151A | 公开（公告）日： | 2014-07-23 |
| 发明（设计）人： | 陈育钲;张家维 | 申请（专利权）人： | 昆达电脑科技（昆山）有限公司;神达电脑股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 内存 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种内存测试方法，其主要适用于对主板的内存模块进行测试，其特征在于，该方法主要包括以下步骤：
步骤a.选择若干组测试条件及相应需测试的参数；
步骤b.计算提供到内存模块进行测试的信号的频率、电压、上升斜率及下降斜率；
步骤c.设定频率产生器产生的信号的频率、电压、上升斜率及下降斜率；
步骤d.设定需量测的信号的参数；
步骤e.将步骤c中设定好频率、电压、上升斜率及下降斜率的信号传送至内存模块中进行测试；
步骤f.判断是否量测到信号输出，若否，则继续量测；若是，则存储量测的信号的参数值；以及
步骤g.判断是否按设定的测试条件将测试参数测试完毕，若否，则返回步骤b，若是，则显示测试完毕后量测的参数值，并判断是否通过测试。
2.根据权利要求1所述的内存测试方法，所述步骤g中将量测的参数值制作成表格显示。
3.根据权利要求1所述的内存测试方法，所述步骤c中所述频率产生器产生的信号为方波。
4.根据权利要求1所述的内存测试方法，所述步骤a中所述需测试的参数主要包括频率、电压、上升斜率及下降斜率。
5.根据权利要求1所述的内存测试方法，所述步骤e信号传送至内存模块中依据英特尔测试规范进行测试。
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