[发明专利]用于存储器电路测试引擎的通用数据加扰器有效
| 申请号： | 201280072125.4 | 申请日： | 2012-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN104205234B | 公开（公告）日： | 2017-07-11 |
| 发明（设计）人： | D.科布拉;D.齐默曼;J.C.约翰逊;V.K.纳塔拉詹 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 马红梅,马永利 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于存储器电路测试引擎的通用数据加扰器。存储器设备的实施例包括存储器；用于存储器的存储器控制器；用于存储器的测试的内建自测试（BIST）电路；以及用于根据针对存储器的加扰算法来加扰数据的通用数据加扰器，其中每一个算法基于用于数据的地址的值。通用数据加扰器包括保持用于算法的每个可能结果的值的可编程查找表，该查找表生成一组数据因子；以及用于将数据与数据因子组合以生成扰码数据的逻辑。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 存储器 电路 测试 引擎 通用 地址 加扰器 | ||
【主权项】：
一种存储器设备，包括：存储器；用于存储器的存储器控制器；用于存储器的测试的内建自测试BIST电路；以及用于根据针对存储器的加扰算法来加扰数据的通用数据加扰器，每一个算法至少部分地基于用于数据的地址的值，其中，通用数据加扰器包括：保持用于算法的每个可能结果的值的可编程查找表，该查找表生成一组数据因子；以及用于将数据与数据因子组合以生成加扰数据的逻辑，其中该查找表包括寄存器文件，该寄存器文件的值是基于地址的位的至少一部分的值来选择的。
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