[发明专利]用于存储器电路测试引擎的通用数据加扰器

权利要求书

1.一种存储器设备，包括：

存储器；

用于存储器的存储器控制器；

用于存储器的测试的内建自测试BIST电路；以及

用于根据针对存储器的加扰算法来加扰数据的通用数据加扰器，每一个算法至少部分地基于用于数据的地址的值，其中，通用数据加扰器包括：

保持用于算法的每个可能结果的值的可编程查找表，该查找表生成一组数据因子；以及

用于将数据与数据因子组合以生成加扰数据的逻辑，

其中该查找表包括寄存器文件，该寄存器文件的值是基于地址的位的至少一部分的值来选择的。

2.按照权利要求1所述的存储器设备，其中该查找表包括复用器，该复用器基于地址的一个或多个位来选择该寄存器文件的值的多个集合中的一个。

3.按照权利要求1所述的存储器设备，其中算法是地址的函数。

4.按照权利要求1的存储器设备，其中BIST电路和通用数据加扰器能够与多个不同的加扰算法一起被利用。

5.按照权利要求1所述的存储器设备，其中存储器设备是堆叠存储器设备，其包括一个或多个存储器层的存储器堆叠和系统元件。

6.按照权利要求5所述的存储器设备，其中存储器控制器、BIST电路和通用数据加扰器是系统元件的一部分。

7.按照权利要求5所述的存储器设备，其中系统元件是片上系统（SoC）。

8.按照权利要求1的存储器设备，其中BIST电路在存储器设备的组装之后提供包括验证存储器设备的存储器的操作以及验证存储器到一个或多个逻辑组件的连接中的一个或多个的测试。

9.按照权利要求1所述的存储器设备，其中BIST电路提供存储器设备的操作中的测试。

10.按照权利要求9所述的存储器设备，其中存储器设备的操作中的测试包括存储器设备的通电自测试。

11.一种数据加扰方法，包括：

预计算用于针对存储器设备的数据加扰算法的数据值；

将预计算的数据值加载到存储器设备的查找表中；

接收用于存储器设备的地址和原始数据；

基于地址从查找表确定一组数据值；以及

将原始数据与所确定的数据值组进行组合以生成加扰数据，

其中该查找表包括寄存器文件，该寄存器文件的值是基于地址的位的至少一部分的值来选择的。

12.按照权利要求11所述的方法，还包括：使用存储器设备的BIST内建自测试电路来执行存储器设备的测试，存储器设备的测试利用加扰数据。

13.按照权利要求12所述的方法，其中执行测试包括：在存储器设备的组装之后进行测试，测试包括验证存储器设备的存储器的操作以及验证存储器到一个或多个逻辑组件的连接中的一个或多个。

14.按照权利要求12所述的方法，其中执行测试包括：在存储器设备的操作中进行测试。

15.按照权利要求14所述的方法，其中在存储器设备的操作中进行测试包括存储器设备的通电自测试。

16.按照权利要求11所述的方法，其中将原始数据与所确定的数据因子组组合包括数据与数据因子组的XOR（异或）运算。

17.按照权利要求11所述的方法，其中存储器设备是包括一个或多个存储器层的存储器堆叠和系统元件的堆叠存储器设备。