[发明专利]具有掩埋的导电区域的微机电器件及其制造工艺有效

专利信息
申请号: 201280053446.X 申请日: 2012-10-30
公开(公告)号: CN103917482B 公开(公告)日: 2017-06-23
发明(设计)人: R·坎佩代利;R·佩祖托;S·洛萨;M·曼托瓦尼;M·阿兹佩提亚乌尔奎亚 申请(专利权)人: 意法半导体股份有限公司
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00;B81B3/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所11256 代理人: 王茂华
地址: 意大利阿格*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种由下列各项形成的MEMS器件(17)本体(2);空腔(25),在本体上方延伸;移动和固定结构(18、19),在空腔上方延伸,并且经由锚固区域(16)物理连接到本体;以及电连接区域(10a、10b、10c),在本体(2)与锚固区域(16)之间延伸,并且电连接到移动和固定结构。电连接区域(10a、10b、10c)由导电多重层形成,该导电多重层包括第一半导体材料层(5)、由半导体材料和过渡金属制成的二元化合物的复合层(6)、和第二半导体材料层(7)。
搜索关键词: 具有 掩埋 导电 区域 微机 器件 及其 制造 工艺
【主权项】:
一种MEMS器件,包括:本体(2);空腔(25),在所述本体上方延伸;移动和固定结构(18、19),在所述空腔(25)上方延伸,并且经由锚固区域(16)物理连接到所述本体;以及电连接区域(10a、10b、10c),在所述本体(2)与所述锚固区域(16)之间延伸,并且电连接到所述移动和固定结构(18、19),其中所述电连接区域(10a、10b、10c)包括导电多重层(4),所述导电多重层(4)包括第一半导体材料层(5)、由半导体材料和过渡金属制成的二元化合物的复合层(6)、和第二半导体材料层(7);以及保护区域(36a),所述保护区域(36a)横向覆盖所述电连接区域(10a、10b、10c)。
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