[发明专利]陶瓷构件、半导体制造装置用构件及陶瓷构件的制造方法有效

专利信息
申请号: 201280049986.0 申请日: 2012-10-10
公开(公告)号: CN103857643A 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 渡边守道;神藤明日美;胜田祐司;佐藤洋介;矶田佳范;渡边笃 申请(专利权)人: 日本碍子株式会社
主分类号: C04B35/04 分类号: C04B35/04;C04B35/58;H01L21/683
代理公司: 上海市华诚律师事务所 31210 代理人: 李晓
地址: 日本爱知县名古*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的陶瓷构件(30)包含有:以Al、N成分固溶于氧化镁中形成的Mg(Al)O(N)为主相的陶瓷基体(32)和配置在部分陶瓷基体(32)上、作为电极成分含有氮化物、碳化物、碳氮化物及金属中的任意1个以上的电极(34)。该陶瓷基体(32)也可以是使用CuKα射线时的所述Mg(Al)O(N)的(111)面、(200)面、(220)面的XRD波峰分别出现在氧化镁的立方晶波峰与氮化铝的立方晶波峰之间的2θ=36.9~39°,42.9~44.8°,62.3~65.2°。
搜索关键词: 陶瓷 构件 半导体 制造 装置 方法
【主权项】:
一种陶瓷构件,包含陶瓷基体和电极,所述陶瓷基体以Al、N成分固溶于氧化镁中形成的Mg(Al)O(N)为主相,所述电极配置于所述陶瓷基体的一部分上,含有氮化物、碳化物、碳氮化物及金属中的任意1个以上作为电极成分。
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