[发明专利]包含具有不同的少数载流子寿命的沟道区域的设备及方法在审
申请号: | 201280046388.8 | 申请日: | 2012-08-14 |
公开(公告)号: | CN103828049A | 公开(公告)日: | 2014-05-28 |
发明(设计)人: | 保罗·泰萨罗;奥雷柳·贾恩卡洛·毛里;合田晃;赵一杰 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L21/8247 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 孙宝成 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明展示例如存储器装置、存储器单元串及电子系统等设备及形成此类设备的方法。一个这样的设备包含沟道区域,在所述沟道区域中,少数载流子寿命在一个或一个以上端部分处比在中间部分中低。还揭示其它设备及方法。 | ||
搜索关键词: | 包含 具有 不同 少数 载流子 寿命 沟道 区域 设备 方法 | ||
【主权项】:
一种设备,其包括:加长沟道区域,其具有耦合到第一端的源极区域及耦合到第二端的漏极区域;及若干存储器单元栅极,其沿所述加长沟道区域的本体区域的长度安置,所述多个栅极中的每一者通过相应电荷存储结构而与所述加长沟道区域分离,其中所述加长沟道区域进一步包括位于所述加长沟道区域的所述第一端处的第一再结合区域及位于所述加长沟道区域的所述第二端处的第二再结合区域,其中所述本体区域介于所述第一再结合区域与所述第二再结合区域之间,且其中所述第一再结合区域及所述第二再结合区域中的至少一者具有低于所述本体区域的少数载流子寿命。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
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H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的