[发明专利]用于测定分析物与配体的固有结合参数的方法、用于从一群分析物中选择分析物的方法、所选择的配体或分析物及传感器无效
| 申请号： | 201280031506.8 | 申请日： | 2012-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN103748467A | 公开（公告）日： | 2014-04-23 |
| 发明（设计）人： | R·B·M·沙斯福特;G·H·M·恩波斯 | 申请（专利权）人： | SSENS有限责任公司;IBIS技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N33/543 | 分类号： | G01N33/543;G01N33/557 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 孙式洪 |
| 地址： | 荷兰恩*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及用于测定分析物与配体的固有结合参数例如KD、kd和ka的方法，所述分析物与配体例如药物和蛋白质、药物和受体以及抗体和抗原，其中最大结合应答Rmax或RL和至少一个结合参数在传感器载体上存在的至少两个不同配体表面密度下进行测定，并且将结合参数的值外推至特征在于Rmax=0或RL=0的配体密度=0，涉及选择分析物和/或配体的方法，以及所选择的配体、分析物和传感器。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测定 分析 固有 结合 参数 方法 一群 选择 传感器 | ||
【主权项】：
用于测定分析物与配体的固有结合参数例如KD、kd和ka的方法，所述分析物与配体例如药物和蛋白质、药物和受体以及抗体和抗原，其中最大结合应答RL或Rmax和至少一个结合参数以传感器载体上存在的至少两个不同配体表面密度进行测定，并且将所述结合参数的值外推至特征在于RL=0或Rmax=0的配体密度=0。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于SSENS有限责任公司;IBIS技术有限责任公司，未经SSENS有限责任公司;IBIS技术有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201280031506.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
