[实用新型]晶体管测试装置有效
| 申请号： | 201220676725.9 | 申请日： | 2012-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN202975255U | 公开（公告）日： | 2013-06-05 |
| 发明（设计）人： | 余廷义 | 申请（专利权）人： | 深圳深爱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 518118 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种晶体管测试装置，用于对晶体管参数和使用状态进行测试，包括对接入的晶体管进行测试的测试模块和检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块。当晶体管接入测试模块时，测试控制模块控制测试模块自动对晶体管进行测试；晶体管撤离测试模块时，测试控制模块控制测试模块自动停止测试。通过测试控制模块自动控制测试模块对晶体管进行测试，在进行大量测试时，避免了手工频繁的开关操作，十分方便。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体管 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种晶体管测试装置，包括对接入的晶体管进行测试的测试模块，其特征在于，还包括检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块，所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。
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