[实用新型]晶体管测试装置有效
| 申请号： | 201220676725.9 | 申请日： | 2012-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN202975255U | 公开（公告）日： | 2013-06-05 |
| 发明（设计）人： | 余廷义 | 申请（专利权）人： | 深圳深爱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 518118 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 晶体管 测试 装置 | ||
1.一种晶体管测试装置，包括对接入的晶体管进行测试的测试模块，其特征在于，还包括检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块，所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。
2.根据权利要求1所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述测试控制模块包括感应开关和第一继电器，所述感应开关连接所述第一继电器的线圈，所述第一继电器的常开开关一端接地另一端作为所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。
3.根据权利要求2所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述第一继电器的常开开关接地的一端串联第一下拉电阻。
4.根据权利要求2所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述测试控制模块还包括控制灯，对应所述第一继电器还包括常闭开关，所述控制灯连接所述第一继电器的常闭开关。
5.根据权利要求4所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述测试控制模块还包括延时电路单元；所述延时电路单元连接所述第一继电器的常开开关，所述延时电路单元的信号输出端作为所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。
6.根据权利要求5所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述延时电路单元为延时继电器组成的延时电路；
所述第一继电器的线圈连接所述感应开关，所述第一继电器的常开开关连接所述延时继电器的线圈，所述延时继电器的常开开关一端接地另一端作为所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。
7.根据权利要求6所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述延时继电器的常开开关接地的一端串联第二下拉电阻。
8.根据权利要求1所述的晶体管测试装置，其特征在于，还包括显示模块，所述测试模块的信号输出端连接所述显示模块的信号输入端。
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