[实用新型]晶体管测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电气测试领域，特别是涉及一种晶体管测试装置。

背景技术

随着电子科技的发展，电子元器件的应用越来越广泛，尤其是晶体管的应用。人们在购买或使用晶体管时常需要知道所购买或使用的晶体管是否可用，在使用晶体管时还需要知道晶体管的参数，以用于电路开发或电子维修。

在晶体管测试初期，采用万用表测试晶体管的好坏，比较麻烦，且测试晶体管参数时测试数据不准确。目前，常用手动晶体管测试仪测试晶体管参数，使用时通过测试开关控制测试。

使用开关控制晶体管测试，在进行大量晶体管测试时需要人工频繁控制开关开断，比较麻烦。

实用新型内容

基于此，有必要针对进行大量测试时需要人工频繁控制开关较麻烦的问题，提供一种不需人工控制的晶体管测试装置。

一种晶体管测试装置，包括对接入的晶体管进行测试的测试模块，还包括检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块，所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。

在其中一个实施例中，所述测试控制模块包括感应开关和第一继电器，所述感应开关连接所述第一继电器的线圈，所述第一继电器的常开开关一端接地另一端作为所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。

在其中一个实施例中，所述第一继电器的常开开关接地的一端串联第一下拉电阻。

在其中一个实施例中，所述测试控制模块还包括控制灯，对应所述第一继电器还包括常闭开关，所述控制灯连接所述第一继电器的常闭开关。

在其中一个实施例中，所述测试控制模块还包括延时电路单元；所述延时电路单元连接所述第一继电器的常开开关，所述延时电路单元的信号输出端作为所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。

在其中一个实施例中，所述延时电路单元为延时继电器组成的延时电路；

所述第一继电器的线圈连接所述感应开关，所述第一继电器的常开开关连接所述延时继电器的线圈，所述延时继电器的常开开关一端接地另一端作为所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。

在其中一个实施例中，所述延时继电器的常开开关接地的一端串联第二下拉电阻。

在其中一个实施例中，还包括显示模块，所述测试模块的信号输出端连接所述显示模块的信号输入端。

上述晶体管测试装置，用于对晶体管参数和使用状态进行测试，包括测试模块和检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块。当晶体管接入时，测试控制模块自动控制测试模块对晶体管进行测试，测试后，晶体管撤离测试装置，测试控制模块控制测试模块自动停止测试。通过测试控制模块自动控制测试模块对晶体管进行测试，在进行大量测试时，避免了手工频繁的开关操作，十分方便。

附图说明

图1为本实用新型晶体管测试装置一实施例的模块图；

图2为本实用新型晶体管测试装置另一实施例的模块图；

图3为本实用新型晶体管测试装置又一实施例的模块图；

图4为本实用新型晶体管测试装置再一实施例的模块图。

具体实施方式

一种晶体管测试装置，用于对晶体管参数和使用状态进行测试，通过设置测试控制模块，当晶体管接入测试模块时，测试控制模块控制测试模块自动对晶体管进行测试，当晶体管撤离测试模块时测试自动停止。通过测试控制模块自动控制测试模块对晶体管进行测试，在进行大量测试时，避免了手工频繁的开关操作，十分方便。

下面结合附图和实施例对本实用新型进行进一步详细说明。

图1所示，为本实用新型晶体管测试装置一实施例的模块图。一种晶体管测试装置，包括对接入的晶体管进行测试的测试模块10和检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块20，测试控制模块20的信号输出端连接测试模块10。当晶体管接入测试模块10时，测试控制模块20自动感应并控制测试模块10对晶体管进行测试；当晶体管撤离测试模块10时，测试控制模块20控制测试模块10自动停止测试。

在对晶体管进行大量测试时，只需将晶体管测试装置上电，将晶体管接入测试模块10后进行自动检测，晶体管撤离测试模块10后自动停止检测。避免了人工手工频繁的开关操作，方便省时。