[实用新型]一种基于冲压框架的多芯片堆叠式扁平封装件有效
申请号: | 201220425531.1 | 申请日: | 2012-08-21 |
公开(公告)号: | CN202772132U | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
发明(设计)人: | 郭小伟;谌世广;崔梦;谢建友;刘卫东 | 申请(专利权)人: | 华天科技(西安)有限公司 |
主分类号: | H01L23/495 | 分类号: | H01L23/495;H01L23/31;H01L25/065 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 710075 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种基于冲压框架的多芯片堆叠式扁平封装件,属于集成电路封装技术领域。采用一种新型的框架,该框架采用冲压法加工而成,并采用冲压或钻孔的方法在框架上形成通孔,用以替代蚀刻法在框架上蚀刻出台阶从而起到抗分层的作用,集成电路封装过程中塑封料填入孔中,从而在框架与塑封料之间形成有效的防拖拉结构,使塑封料与框架间的结合力更好,极大的降低了分层的可能行,显著提高产品可靠性。同时解决了以往研磨框架及半腐蚀框架费用高的缺陷,极大的降低了成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 冲压 框架 芯片 堆叠 扁平封装 | ||
【主权项】:
一种基于冲压框架的多芯片堆叠式扁平封装件,其特征在于:多芯片堆叠式封装件包括引线框架、芯片A与引线框架之间的粘片胶A、芯片A、芯片A与引线框架之间的键合线A、开孔、塑封体、芯片A与芯片B之间的粘片胶B、芯片B、芯片A与芯片B之间的键合线B、芯片B与引线框架间的键合线C;塑封体包围了引线框架、芯片A与引线框架之间的粘片胶A、芯片A、芯片A与引线框架之间的键合线A、开孔、塑封体、芯片A与芯片B之间的粘片胶B、芯片B、芯片A与芯片B之间的键合线B、芯片B与引线框架间的键合线C;构成了电路整体,并且塑封体对芯片A、芯片B、键合线A、键合线B、键合线C起到了支撑和保护作用,芯片A、芯片B、键合线A、键合线B、键合线C和引线框架构成了电路的电源和信号通道。
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