[发明专利]一种EMMC芯片寿命检测方法

摘要

一种EMMC芯片寿命检测方法，所述方法包括步骤：当flash空闲存储块足够写入数据时，将数据写入EMMC芯片；上层应用程序通过对EMMC芯片写入不同大小的文件来获取底层反馈的实际写入大小，求出各种大小文件的数据缓冲率，再通过统计android系统中所有应用程序在单位时间内对EMMC存储的使用、每个应用写入文件大小及次数计算出EMMC芯片的寿命。本发明可以于检测应用对flash读写是否合理、系统中所有应用对EMMC的使用状况，同时测试不同文件系统对于文件写入的缓冲情况，提高系统的健壮性，对于EMMC芯片寿命的预测，可以在其寿命将要终止时提示用户更换芯片，防止设备读写出现问题及数据的安全。

主权项

1.一种EMMC芯片寿命检测方法，其特征在于，包括如下步骤：A、统计EMMC芯片的入口处需要写入EMMC芯片的请求总数据量；B、写入数据到EMMC芯片，判断flash空闲存储块是否足够写入数据，当flash空闲存储块足够写入数据时，将数据写入EMMC芯片；C、统计单位时间内写入EMMC芯片中flash空闲存储块小于1个块的写入次数N₁、小于2个连续块的写入次数N₂，直至小于n个连续块的写入次数N_n；D、统计单位时间内写入EMMC芯片中flash空闲存储块小于1个块的数据缓冲率K₁、小于2个块的数据缓冲率K₂，直至小于n个连续块的数据缓冲率K_n；E、根据EMMC芯片中flash的总块数m、每个flash块可被编程的次数P、所述N₁ 、N₂、……N_n参数、数据缓冲率K₁、K₂……K_n参数计算出EMMC芯片的寿命为单位时间。