[发明专利]一种EMMC芯片寿命检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及移动设备存储芯片，尤其涉及一种EMMC芯片寿命检测方法。

背景技术

随着智能电视和移动终端设备的飞速发展，在这些设备上存储系统数据和用户数据的芯片大都采用flash芯片实现，因此flash芯片存储对整个设备的系统安全来说是极为重要的。

在目前主流应用android系统的设备中，flash存储包括两种方案，一种是flash+专用文件系统(YAFFS，Yet Another Flash File System)，另外一种是EMMC芯片（Embedded Multi Media Card）+传统文件系统。由于EMMC芯片具有接口统一，体积小，读写速度快，使用方便等优点，被越来越多用做智能电视，手机，MID等的存储芯片。EMMC芯片将控制器和flash存储封装在一块芯片中，因此，其可以直接使用传统文件系统。

现有技术EMMC芯片存储部分采用的是flash芯片，flash芯片的存储单元包括SLC（Single Level Cell单层单元）和MLC（Multi-Level Cell多层单元）两种架构的芯片，读写仍然有存储寿命限制，其寿命主要取决于对块的擦除次数。其中，SLC芯片的擦写周期有的高达100000次，而MLC芯片有的只有3000次，甚至更低的只有1000次的擦除寿命。在Android智能电视或移动终端设备的应用环境中，有时需要向EMMC芯片上保存一些数据或者更新一些数据，这样就涉及到flash芯片的擦写，频繁的擦写会缩短flash芯片的寿命进而会影响到整个设备的寿命。然而，在设备的具体使用过程中，系统应用对EMMC芯片访问的频率是多少，每次数据的存储量是多少，均无法直观看到。对于EMMC芯片的使用情况也无法得知，EMMC芯片的寿命也无法预知。系统中每个应用是独立开发的，可能会运行在各种不同的平台上，对存储的需求也是不一样的，因此对某个设备而言，存储的操作可能是复杂的。这样就有可能导致读写出现问题，进而丢失数据或造成不必要的损失。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本发明为解决现有技术缺陷和不足，提出一种改进的方案，在EMMC驱动程序中增加测试程序的监控代码，并提供接口给测试程序操作，测试程序可通过操作接口获知EMMC芯片被访问的相关信息，确定flash芯片的使用状况,从而更加有效、安全地使用EMMC存储设备。

本发明解决技术问题所采用的技术方案如下： 

一种EMMC芯片寿命检测方法，包括如下步骤：

A、统计EMMC芯片的入口处需要写入EMMC芯片的请求总数据量；

B、写入数据到EMMC芯片，判断flash空闲存储块是否足够写入数据，当flash空闲存储块足够写入数据时，将数据写入EMMC芯片；

C、统计单位时间内写入EMMC芯片中flash空闲存储块小于1个块的写入次数N₁、小于2个连续块的写入次数N₂，直至小于n个连续块的写入次数N_n；

D、统计单位时间内写入EMMC芯片中flash空闲存储块小于1个块的数据缓冲率K₁、小于2个块的数据缓冲率K₂，直至小于n个连续块的数据缓冲率K_n；

E、根据EMMC芯片中flash的总块数m、每个flash块可被编程的次数P、所述N₁ 、N₂、……N_n参数、数据缓冲率K₁、K₂……K_n参数计算出EMMC芯片的寿命为                                                单位时间。

进一步地，步骤A中具体为，对所有需要写入EMMC芯片的程序及其请求数据量进行列表存储，以统计出需要写入EMMC芯片的请求总数据量。

所述步骤B中写入数据到EMMC芯片是测试程序或各应用程序根据需求写入数据到EMMC芯片。

步骤C中，统计写入EMMC芯片中flash空闲存储块小于1个块的写入次数N₁、小于2个连续块的写入次数N₂，直至小于n个连续块的写入次数N_n是通过对EMMC芯片底层驱动程序监控读取EMMC驱动中的数据结构来实现的。