[发明专利]绝缘体上硅射频器件及绝缘体上硅衬底有效
申请号: | 201210564175.6 | 申请日: | 2012-12-21 |
公开(公告)号: | CN103022054A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 李乐;许丹 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L29/06 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种绝缘体上硅射频器件及绝缘体上硅衬底,绝缘体上硅射频器件中,在高电阻率硅基板的靠近埋入氧化层的表面处设置有凹坑,凹坑内可以填充绝缘物质,这样可以增大高电阻率硅基板的等效表面电阻;凹坑内也可以不填充绝缘物质,即凹坑内保持在真空状态或仅填充有空气,这样同样可以增大高电阻率硅基板的等效表面电阻,因而能够减少在射频信号作用下高电阻率硅基板表面涡流的产生,减少了射频信号的损耗,提高了绝缘体上硅射频器件的射频信号的线性度。 | ||
搜索关键词: | 绝缘体 射频 器件 衬底 | ||
【主权项】:
一种绝缘体上硅射频器件,其特征在于,包括:绝缘体上硅衬底,包括高电阻率硅基板、顶层硅及设置在所述高电阻率硅基板与顶层硅之间的埋入氧化层,所述顶层硅中至少形成有两个有源区,相邻两个所述有源区被浅沟槽隔离结构隔离;设置在所述绝缘体上硅衬底内、数量至少为一个的第一凹坑,所述第一凹坑的开口设置在所述高电阻率硅基板的远离所述埋入氧化层的表面,所述第一凹坑沿着所述绝缘体上硅衬底的厚度方向延伸并至少贯穿所述高电阻率硅基板;形成在所述顶层硅及浅沟槽隔离结构上的金属互连结构,其包括形成在所述顶层硅及浅沟槽隔离结构上的层间介质层及位于所述层间介质层上方的金属层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的