[发明专利]振荡电路和测试电路无效
申请号: | 201210477729.9 | 申请日: | 2012-11-21 |
公开(公告)号: | CN103163444A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 寺田晴彦;本间纮平 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/27 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 陈桂香;褚海英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本公开涉及振荡电路和测试电路。本文公开一种振荡电路,包括:控制晶体管,其通过根据其输入端子处的电位而进入导通状态和非导通状态之一来改变其输出端子处的电位;作为测量对象的晶体管,其具有与控制晶体管的沟道极性相同的沟道极性,并且与控制晶体管串联连接在电源与地之间;电容器,当控制晶体管从导通状态进入非导通状态时,该电容器根据从作为测量对象的晶体管泄漏的泄漏电流值来延迟输出端子处的电位改变;和反相电路,其使输出端子处的电位反相,从而将反相后的电位反馈回输入端子。 | ||
搜索关键词: | 振荡 电路 测试 | ||
【主权项】:
一种振荡电路,包括:控制晶体管,其通过根据其输入端子处的电位而进入导通状态和非导通状态之一来改变其输出端子处的电位;作为测量对象的晶体管,其具有与所述控制晶体管的沟道极性相同的沟道极性,并且与所述控制晶体管串联连接在电源与地之间;电容器,当所述控制晶体管从所述导通状态进入所述非导通状态时,所述电容器根据从所述作为测量对象的晶体管泄漏的泄漏电流值来延迟所述控制晶体管的所述输出端子处的电位的改变;和反相电路,其使所述控制晶体管的所述输出端子处的电位反相,从而将反相后的电位反馈回所述控制晶体管的所述输入端子。
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