[发明专利]一种大样本快速三维显微成像的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201210402820.4 申请日: 2012-10-19
公开(公告)号: CN102928970A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 骆清铭;龚辉;许冬力;李安安 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G02B21/00 分类号: G02B21/00;G02B21/06;G02B21/36
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 唐正玉
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种大样本快速三维显微成像的方法及系统,本发明方法:(1)样本包埋在样本块中固定在精密三维电动平移台上;(2)数字微镜阵列工作在二值调制的模式下,对照明光进行二值调制,形成结构光条纹,结构光显微镜采集样本表层1-100微米深度内的图像;(3)完成成像区域内表层的成像后,利用金刚石或硬质合金刀具,去除样本块表层已成像部分;(4)重复步骤(2)和步骤(3),直到完成数据获取任务。本发明的数字微镜阵列工作在二值调制的模式下,有效加快成像速度;通过数字微镜阵列与面阵相机的曝光同步方法,使得只有在面阵相机曝光时样本才会接受到激发光的照射,进一步降低样本的曝光量,避免光漂白效应对成像带来负面影响。
搜索关键词: 一种 样本 快速 三维 显微 成像 方法 系统
【主权项】:
一种大样本快速三维显微成像的方法,其特征在于包括以下步骤:(1)样本包埋在样本块中,固定在精密三维电动平移台之上;(2)数字微镜阵列工作在二值调制的模式下,对照明光进行二值调制,形成结构光条纹,结构光显微镜采集样本表层1-100微米深度内的图像;(3)完成成像区域内表层的成像后,利用金刚石或硬质合金刀具,去除样本块表层已成像部分;(4)重复步骤(2)和步骤(3),直到完成数据获取任务。
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