[发明专利]基于边界扫描的芯片连接测试系统及其方法

摘要

一种基于边界扫描的芯片连接测试系统及其方法，先使用快速算法迅速检测出故障电性连接的引脚，对故障电性连接的引脚再次使用走步1算法、走步0算法、全0向量检测法以及全1向量检测法以精确定位故障原因，由此可以达成改善现有边界扫描自适应算法进行芯片引脚电性连接检测缺陷的技术效果。

主权项

一种基于边界扫描的芯片连接测试系统，其特征在于，包含：第一检测芯片，输入数据组自所述第一检测芯片的测试数据输入引脚开始推送且通过所述第一检测芯片内的边界扫描单元推送至所述第一检测芯片的至少一个数据输出引脚；第二检测芯片，所述第二检测芯片的至少一个数据输入引脚分别与对应的所述数据输出引脚电性连接，并由所述数据输出引脚更新所述数据输入引脚的输出数据组，通过所述第二检测芯片内的边界扫描单元推送所述输出数据组至所述第二检测芯片的测试数据输出引脚；及数据解析装置，所述数据解析装置与所述测试数据输入引脚电性连接且与所述测试数据输出引脚电性连接，所述数据解析装置将标准数据组转为所述输入数据组并提供至所述测试数据输入引脚，且所述数据解析装置自所述测试数据输出引脚获得所述输出数据组，并将所述输出数据组转换为比对数据组，所述标准数据组包含多组标准数据，每一组标准数据分别与所述数据输出引脚对应且每一组标准数据包含第一标准数据、第二标准数据以及第三标准数据，所述比对数据组包含多组比对数据，每一组比对数据分别与所述数据输入引脚对应且每一组比对数据包含第一比对数据、第二比对数据以及第三比对数据，所述数据解析装置用以进行下列数据解析：依据所述标准数据与所述比对数据判断所述数据输出引脚与所述数据输入引脚电性连接为不正常连接时，进行下列数据解析：当所述比对数据的所述第一比对数据、所述第二比对数据以及所述第三比对数据皆为1或0时，则所述数据输出引脚与所述数据输入引脚之间具有开路故障；当所述比对数据的所述第一比对数据以及所述第二比对数据皆为0或1且所述比对数据的所述第三比对数据不全为0或1时，则所述数据输出引脚与所述数据输入引脚之间皆具有逻辑与短路或逻辑或短路；当所述比对数据相同且为所述标准数据经过逻辑运算与或是或的结果，则与所述比对数据相同对应的所述数据输出引脚与所述数据输入引脚之间具有逻辑与短路或逻辑或短路；及当所述比对数据相同且不为所述标准数据经过逻辑运算与或是或的结果，则表示具有混合故障，所述混合故障包含开路故障、逻辑与短路及逻辑或短路的组合。