[发明专利]一种提高GaN-LED出光稳定性的低损伤图形衬底的制备方法有效
申请号: | 201210338323.2 | 申请日: | 2012-09-13 |
公开(公告)号: | CN103681977A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 邵慧慧;曲爽;王成新;马旺;李毓锋 | 申请(专利权)人: | 山东浪潮华光光电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 | 代理人: | 吕利敏 |
地址: | 261061 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及一种提高GaN-LED出光稳定性的低损伤图形衬底的制备方法。该方法包括按现有技术在蓝宝石衬底上制备规则的掩膜图形,湿法腐蚀制出蓝宝石图形衬底,最后去除掩膜层,其中,在湿法腐蚀前,在蓝宝石衬底下面蒸镀一层二氧化硅或者氮化硅掩膜,掩膜层的厚度为0.1-1μm,以保护衬底,得到的图形衬底透明度均一,在图形衬底上生长外延层,该过程中生长均一性将明显提高,制得的GaN-LED出光稳定性好。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 gan led 稳定性 损伤 图形 衬底 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种低损伤的图形衬底的制备方法,包括按现有技术,在蓝宝石衬底上制备规则的掩膜图形,湿法腐蚀制出蓝宝石图形衬底,最后去除掩膜层,其特征在于,在湿法腐蚀前,将蓝宝石衬底利用等离子体化学气相沉积(PECVD)工艺在蓝宝石衬底下面蒸镀一层二氧化硅或者氮化硅掩膜,掩膜层的厚度为0.1‑1μm。
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