[发明专利]双凹沟槽式肖特基势垒元件有效
申请号: | 201210275461.0 | 申请日: | 2012-08-03 |
公开(公告)号: | CN103515451A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 |
发明(设计)人: | 颜诚廷;陈永祥;洪建中;李传英 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/06 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;鲍俊萍 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种肖特基势垒元件,包括半导体基材、第一接触金属层、第二接触金属层和氧化层。半导体基材具有相对的第一表面和第二表面,于第一表面处具有多个沟槽,每沟槽包括第一凹槽具有第一深度和第二凹槽具有第二深度,第二凹槽自第一表面向下延伸,第一凹槽于第二凹槽中往下延伸,使第一深度大于第二深度。第一接触金属层,至少形成于第二凹槽。第二接触金属层形成于相邻两沟槽之间的第一表面上。氧化层形成于第一凹槽。其中,第一接触金属层与半导体基材形成第一肖特基势垒,第二接触金属层与半导体基材形成第二肖特基势垒,第一肖特基势垒大于第二肖特基势垒。采用本发明,可良好夹止反向漏电流与提高元件可靠度。 | ||
搜索关键词: | 沟槽 式肖特基势垒 元件 | ||
【主权项】:
一种肖特基势垒元件,其特征在于,包括:半导体基材,具有相对的第一表面和第二表面,于该第一表面处具有多个沟槽,每该沟槽包括第一凹槽和第二凹槽,该第一凹槽具有第一深度,该第二凹槽具有第二深度,该第二凹槽自该第一表面向下延伸,该第一凹槽于该第二凹槽中往下延伸,该第一深度大于该第二深度;第一接触金属层,至少形成于该第二凹槽的表面;第二接触金属层,形成于相邻两该沟槽之间的该第一表面上;和氧化层,形成于该第一凹槽的表面,其中,该第一接触金属层与该半导体基材形成第一肖特基势垒,该第二接触金属层与该半导体基材形成第二肖特基势垒,该第一肖特基势垒大于该第二肖特基势垒。
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