[发明专利]一种提高夏克-哈特曼波前传感器测量精度的波前重构方法有效

专利信息
申请号: 201210237127.6 申请日: 2012-07-10
公开(公告)号: CN102749143A 公开(公告)日: 2012-10-24
发明(设计)人: 田雨;饶学军;饶长辉 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;顾炜
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种提高夏克-哈特曼波前传感器测量精度的波前重构方法,该方法以传统夏克-哈特曼波前传感器得到的波前探测像差作为起始点,利用迭代算法反复在波前像差与子孔径光斑间进行循环,通过比较迭代出的子孔径光斑与初始子孔径光斑间的形态判断迭代是否已经到位,最后得到高精度的波前像差分布。本发明可以克服夏克-哈特曼波前传感器空间采样率不足的弱点,进一步提高其探测精度与探测能力,并降低对夏克-哈特曼波前传感器硬件的要求。
搜索关键词: 一种 提高 哈特曼波前 传感器 测量 精度 波前重构 方法
【主权项】:
1.一种提高夏克-哈特曼波前传感器测量精度的波前重构方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:步骤(1)、记录夏克-哈特曼波前传感器探测到的初始波前像差子孔径排布pi(x,y)以及哈特曼点阵S0(x,y),其中i≤M,M为子孔径数;步骤(2)、将初始波前像差根据子孔径排布pi(x,y)在计算机上对做区域分割并进行二次成像,得到哈特曼点阵Sest(x,y);步骤(3)、根据子孔径排布pi(x,y)计算各个子孔径的质心坐标(gx,i,gy,i)并得到各个子孔径的斜率;步骤(4)、将各个子孔径的斜率斜率复原为波前像差步骤(5)、估计出的波前像差根据子孔径排布在计算机上重新做区域分割并进行二次成像,得到新的哈特曼点阵S'est(x,y);为保持迭代过程符号一致,令:Sest(x,y)=Sest(x,y);步骤(6)、度量S0(x,y)与Sest(x,y)的相似性,并以此作为迭代停止条件,若满足迭代停止条件的要求则输出波前像差否则转向步骤(3)继续迭代。
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