[发明专利]测试装置及测试方法无效
| 申请号： | 201210215861.2 | 申请日： | 2012-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN102854411A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 大岛广美 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种以正确的时序比较取样的数据值的测试装置，用于测试输出数据信号和表示取样所述数据信号的时序的时钟信号的被测试器件，其具备：缓冲部，缓冲所述数据信号；图案发生部，在该测试装置的每个测试周期，发生控制信号及数据信号的期望值；读出控制部，在每个测试周期，以控制信号指示从缓冲部读出数据为条件，自缓冲部读出所述数据信号；判断部，比较被所述读出控制部读出的所述数据信号和被所述图案发生部发生的期望值。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测试装置，用于测试输出数据信号和表示取样所述数据信号时序的时钟信号的被测试器件，其具备：缓冲部，缓冲所述数据信号；图案发生部，在该测试装置的每个测试周期，发生控制信号及所述数据信号的期望值；读出控制部，在每个所述测试周期，以所述控制信号指示从所述缓冲部读出数据为条件，自所述缓冲部读出所述数据信号；判断部，比较被所述读出控制部读出的所述数据信号和被所述图案发生部发生的所述期望值。
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