[发明专利]测试装置及测试方法无效

专利信息
申请号: 201210215861.2 申请日: 2012-06-27
公开(公告)号: CN102854411A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 大岛广美 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人: 齐永红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种测试装置,用于测试输出数据信号和表示取样所述数据信号时序的时钟信号的被测试器件,其具备:

缓冲部,缓冲所述数据信号;

图案发生部,在该测试装置的每个测试周期,发生控制信号及所述数据信号的期望值;

读出控制部,在每个所述测试周期,以所述控制信号指示从所述缓冲部读出数据为条件,自所述缓冲部读出所述数据信号;

判断部,比较被所述读出控制部读出的所述数据信号和被所述图案发生部发生的所述期望值。

2.根据权利要求1所述的测试装置,

所述图案发生部,作为所述控制信号,在每个所述测试周期发生表示是否从所述缓冲部读出所述数据信号的读出标志,以及表示是否让所述判断部比较所述数据信号和所述期望值的比较标志;

所述读出控制部,在每个所述测试周期,以所述读出标志指示所述数据信号的读出为条件,从所述缓冲部读出所述数据信号;

所述判断部,在每个所述测试周期,以所述比较标志指示所述数据信号和所述期望值的比较为条件,比较被所述读出控制部读出的所述数据信号和所述期望值。

3.根据权利要求2所述的测试装置,

该测试装置,还包括与被所述图案发生部在每个测试周期执行的测试命令的各自对应,存储所述读出标志及所述比较标志的图案存储器;

所述图案发生部,执行在每个所述测试周期被所述图案存储器存储的所述测试命令发生期望值,并且,发生与所执行的所述测试命令对应的所述读出标志及所述比较标志。

4.根据权利要求1所述的测试装置,

所述读出控制部,按照被所述缓冲部写入的顺序从所述缓冲部读出所述数据信号;

该测试装置,还具有下溢检测部,检测所述读出控制部导致的来自所述缓冲部的所述数据信号的读出位置超过被所述缓冲部写入的所述数据信号的写位置读出的情况。

5.根据权利要求4所述的测试装置,

所述缓冲部,接收从所述被测试器件接连被输出的多个数据信号后进行突发写入;

所述读出控制部,将所述缓冲部进行了所述突发写入的连续的多个数据信号,在连续的多个测试周期突发读取;

所述下溢检测部,在每次由所述读出控制部的所述数据信号的突发读取结束时,比较在所述缓冲部中的最后写位置和最后读出位置以检测下溢。

6.根据权利要求1所述的测试装置,

该测试装置,还具有指定部,指定是以与所述时钟信号对应的时序,取得所述数据信号,还是以与所述测试周期对应的时序信号的时序取得所述数据信号;

所述缓冲部,在被所述指定部指定了以所述时钟信号的时序取得所述数据信号的情况下,以与所述时钟信号对应的时序取得所述数据信号;在被所述指定部指定了以所述时序信号的时序取得所述数据信号的情况下,以与所述时序信号对应的时序取得所述数据信号;

所述读出控制部,在每个所述测试周期,从所述缓冲部读出所述数据信号。

7.根据权利要求1所述的测试装置,

该测试装置,经由双向总线与所述被测试器件收发数据信号及时钟信号。

8.根据权利要求1所述的测试装置,

所述被测试器件,是通过双向总线收发数据信号及时钟信号的存储器器件。

9.一种测试方法,

是测试输出数据信号和表示取样所述数据信号的时序的时钟信号的被测试器件的测试装置中的测试方法,

所述测试装置,具有:

缓冲部,缓冲在所述时钟信号的时序中被取得的所述数据信号;

图案发生部,在该测试装置的每个测试周期,发生控制信号及所述数据信号的期望值;

在每个所述测试周期,以所述控制信号指示从所述缓冲部读出数据为条件,从所述缓冲部读出所述数据信号;

比较被读出的所述数据信号和被所述图案发生部发生的所述期望值。

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