[发明专利]GaAs基超薄芯片的制作方法有效
申请号: | 201210176151.3 | 申请日: | 2012-05-31 |
公开(公告)号: | CN102709408A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 陈昆男;许智源;王湘军;戴世攀;周晓莉;方飞 | 申请(专利权)人: | 东莞洲磊电子有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人: | 雷利平 |
地址: | 523590 广东省东莞市谢*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了GaAs基超薄芯片的制作方法,GaAs基超薄芯片包括基板和磊晶层,先对基板的下表面进行第一次蚀刻;在磊晶层蒸镀加工出正电极,对由磊晶层和正电极形成的上表面进行上蜡处理;然后对基板的下表面进行二次蚀刻,将基板减薄至100μm±20μm,对磊晶层和正电极形成的上表面下蜡清洗处理后,对基板的下表面蒸镀加工出负电极。此超薄芯片将不需要人为切破,从而避免在黃光微影工序中由于芯片过于翘曲,不能与机台贴合,影响芯片充分曝光,而被迫切一为四,同时避免了由于破片过多而造成的混料、破片、报废等异常,具有破片少,报废少,良率高,质量高的特点,达到了业內同类产品先进的水平,极大的降低了生产成本。 | ||
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【主权项】:
GaAs基超薄芯片的制作方法,GaAs基超薄芯片包括基板和磊晶层,所述基板的上表面磊晶有磊晶层,其特征在于:先对基板的下表面进行第一次蚀刻,将基板减薄至200μm±20μm;再在磊晶层蒸镀加工出正电极,对由磊晶层和正电极形成的上表面进行上蜡处理;然后对基板的下表面进行二次蚀刻,将基板减薄至100μm±20μm,对磊晶层和正电极形成的上表面下蜡清洗处理后,对基板的下表面蒸镀加工出负电极。
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