[发明专利]GaAs基超薄芯片的制作方法有效

专利信息
申请号: 201210176151.3 申请日: 2012-05-31
公开(公告)号: CN102709408A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 陈昆男;许智源;王湘军;戴世攀;周晓莉;方飞 申请(专利权)人: 东莞洲磊电子有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 代理人: 雷利平
地址: 523590 广东省东莞市谢*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: gaas 超薄 芯片 制作方法
【权利要求书】:

1.GaAs基超薄芯片的制作方法,GaAs基超薄芯片包括基板和磊晶层,所述基板的上表面磊晶有磊晶层,其特征在于:先对基板的下表面进行第一次蚀刻,将基板减薄至200μm±20μm;再在磊晶层蒸镀加工出正电极,对由磊晶层和正电极形成的上表面进行上蜡处理;然后对基板的下表面进行二次蚀刻,将基板减薄至100μm±20μm,对磊晶层和正电极形成的上表面下蜡清洗处理后,对基板的下表面蒸镀加工出负电极。

2.根据权利要求1所述的GaAs基超薄芯片的制作方法,其特征在于:在对基板的下表面进行第一次蚀刻之前,先对磊晶层进行磨边处理。

3.根据权利要求1所述的GaAs基超薄芯片的制作方法,其特征在于:所述上蜡处理包括依次进行的上蜡平坦化工序及冷却工序。

4.根据权利要求3所述的GaAs基超薄芯片的制作方法,其特征在于:所述上蜡平坦化工序是采用4kg的翻转压盘进行,在具有冷却系统的翻转压盘上的冷却时间为5分钟以上,并需进行芯片背面的清洗工序。

5.根据权利要求1所述的GaAs基超薄芯片的制作方法,其特征在于:所述上蜡处理的蜡层厚度为5μm。

6.根据权利要求1所述的GaAs基超薄芯片的制作方法,其特征在于:所述下蜡清洗处理是采用无尘纸沾拭IPA溶液,对芯片背面及蚀刻台面进行去蜡的清洁。

7.根据权利要求1所述的GaAs基超薄芯片的制作方法,其特征在于:所述下蜡清洗处理包括一次清洗和二次清洗,所述一次清洗包括芯片在加热至沸腾的去蜡溶液浸泡5分钟,直至芯片移动,然后进行二次清洗,所述二次清洗为用毛刷沾冷脱剂,并清扫芯片表面30秒,在快排冲洗槽里面用高纯水冲洗10分钟以上。

8.根据权利要求1所述的GaAs基超薄芯片的制作方法,其特征在于:所述蒸镀使用电子束溅镀及钨舟热蒸镀的方式。

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