[发明专利]涡流检测探头无效
| 申请号： | 201210134755.1 | 申请日： | 2012-05-03 |
| 公开（公告）号： | CN102645157A | 公开（公告）日： | 2012-08-22 |
| 发明（设计）人： | 金佳琳;虞文武;林俊明 | 申请（专利权）人： | 常州机电职业技术学院 |
| 主分类号： | G01B7/26 | 分类号： | G01B7/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 213164*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及无损检测领域，尤其涉及一种用于检测材质为40Cr的回转支承淬透层的涡流检测探头，包括绕组单元（2）和封装绕组单元的外壳（3）；所述绕组单元（2）包括磁芯（2-1），绕在磁芯（2-1）上检测线圈（2-2）和绕在检测线圈（2-2）上的激励线圈（2-3）；所述外壳（3）的上部设有通孔（4），下部设有空腔（5）；所述绕组单元（2）被封装在所述空腔（5）内；所述激励线圈（2-3）由直径为0.14~0.16mm的漆包铜线绕制445~450匝形成；检测线圈（2-2）由直径为0.05~0.07mm的漆包铜线绕制1400~1500匝形成。采用上述技术方案后，克服了涡流检测探头对材质为40Cr的回转支承表面淬火层识别不敏感，容易漏检的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 涡流 检测 探头 | ||
【主权项】：
一种涡流检测探头，包括绕组单元（2）和封装绕组单元（2）的外壳（3）；所述绕组单元（2）包括磁芯（2‑1），绕在磁芯（2‑1）上的检测线圈（2‑2）和绕在检测线圈（2‑2）上的激励线圈（2‑3）；所述外壳（3）的上部设有通孔（4），所述外壳（3）的下部设有空腔（5）；所述绕组单元（2）被封装在所述空腔（5）内；其特征在于：所述激励线圈（2‑3）由直径为0.14~0.16mm的漆包铜线绕制445~450匝形成；检测线圈（2‑2）由直径为0.05~0.07mm的漆包铜线绕制 1400~1500匝形成。
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