[发明专利]涡流检测探头无效
申请号: | 201210134755.1 | 申请日: | 2012-05-03 |
公开(公告)号: | CN102645157A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
发明(设计)人: | 金佳琳;虞文武;林俊明 | 申请(专利权)人: | 常州机电职业技术学院 |
主分类号: | G01B7/26 | 分类号: | G01B7/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 213164*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 涡流 检测 探头 | ||
1.一种涡流检测探头,包括绕组单元(2)和封装绕组单元(2)的外壳(3);所述绕组单元(2)包括磁芯(2-1),绕在磁芯(2-1)上的检测线圈(2-2)和绕在检测线圈(2-2)上的激励线圈(2-3);所述外壳(3)的上部设有通孔(4),所述外壳(3)的下部设有空腔(5);所述绕组单元(2)被封装在所述空腔(5)内;其特征在于:所述激励线圈(2-3)由直径为0.14~0.16mm的漆包铜线绕制445~450匝形成;检测线圈(2-2)由直径为0.05~0.07mm的漆包铜线绕制 1400~1500匝形成。
2.根据权利要求1所述的涡流检测探头,其特征在于:所述外壳(3)的下端还固定联接一个可以避免提离效应的卡槽(1),所述卡槽(1)的A面为一斜面。
3.根据权利要求2所述的涡流检测探头,其特征在于:所述卡槽(1)的A面与探头外壳(3)的B面呈105°的α夹角。
4.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于:所述激励线圈(2-3)由直径为0.15mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈(2-2)由直径为0.06mm的漆包铜线绕制 1500匝形成。
5.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于:所述激励线圈(2-3)由直径为0.16mm的漆包铜线绕制445匝形成;检测线圈(2-2)由直径为0.06mm的漆包铜线绕制 1450匝形成。
6.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于:所述激励线圈(2-3)由直径为0.16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈(2-2)由直径为0.06mm的漆包铜线绕制 1450匝形成。
7.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于:所述激励线圈(2-3)由直径为0.16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈(2-2)由直径为0.06mm的漆包铜线绕制 1500匝形成。
8.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于:所述激励线圈(2-3)由直径为0.16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈(2-2)由直径为0.05mm的漆包铜线绕制 1500匝形成。
9.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于:所述激励线圈(2-3)由直径为0.16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈(2-2)由直径为0.06mm的漆包铜线绕制 1400匝形成。
10.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于:所述激励线圈(2-3)由直径为0.15mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈(2-2)由直径为0.06mm的漆包铜线绕制 1400匝形成。
11.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于:所述激励线圈(2-3)由直径为0.15mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈(2-2)由直径为0.06mm的漆包铜线绕制 1450匝形成。
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