[发明专利]一种PCB测试治具及其制作方法有效
| 申请号: | 201210121640.9 | 申请日: | 2012-04-24 |
| 公开(公告)号: | CN102628878A | 公开(公告)日: | 2012-08-08 |
| 发明(设计)人: | 张柏勇 | 申请(专利权)人: | 景旺电子科技(龙川)有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 | 代理人: | 王永文;刘文求 |
| 地址: | 517333 广东省河*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种PCB测试治具及其制作方法,其中,所述PCB测试治具包括:基板、第一突出结构和第二突出结构,所述基板包括依次叠置的第一铜层、镍层和第二铜层;所述第一突出结构设置在所述第二铜层上,所述第二突出结构设置在所述第一铜层上,并与第一突出结构相对应,用于与PCB线路板上的测试点之间接触。其最小测试能力可以达到0.1mm左右,相比常规PCB测试治具最小0.2mm的测试能力,工艺能力上得到了较大的提升,且满足了高精密度线路板不需飞针测试也能批量电性测试的需求。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 pcb 测试 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种PCB测试治具,用于对PCB线路板进行电性测试,其特征在于,所述PCB测试治具包括: 基板、所述基板包括依次叠置的第一铜层、镍层和第二铜层;设置在所述第二铜层上的第一突出结构、所述第一突出结构与PCB线路板上的测试点相对应;填充在第一突出结构之间的树脂;用于与PCB线路板上的测试点之间接触的第二突出结构、所述第二突出结构设置在所述第一铜层上,并与第一突出结构相对应。
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