[发明专利]一种PCB测试治具及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201210121640.9 申请日: 2012-04-24
公开(公告)号: CN102628878A 公开(公告)日: 2012-08-08
发明(设计)人: 张柏勇 申请(专利权)人: 景旺电子科技(龙川)有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 代理人: 王永文;刘文求
地址: 517333 广东省河*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种PCB测试治具及其制作方法,其中,所述PCB测试治具包括:基板、第一突出结构和第二突出结构,所述基板包括依次叠置的第一铜层、镍层和第二铜层;所述第一突出结构设置在所述第二铜层上,所述第二突出结构设置在所述第一铜层上,并与第一突出结构相对应,用于与PCB线路板上的测试点之间接触。其最小测试能力可以达到0.1mm左右,相比常规PCB测试治具最小0.2mm的测试能力,工艺能力上得到了较大的提升,且满足了高精密度线路板不需飞针测试也能批量电性测试的需求。
搜索关键词: 一种 pcb 测试 及其 制作方法
【主权项】:
一种PCB测试治具,用于对PCB线路板进行电性测试,其特征在于,所述PCB测试治具包括: 基板、所述基板包括依次叠置的第一铜层、镍层和第二铜层;设置在所述第二铜层上的第一突出结构、所述第一突出结构与PCB线路板上的测试点相对应;填充在第一突出结构之间的树脂;用于与PCB线路板上的测试点之间接触的第二突出结构、所述第二突出结构设置在所述第一铜层上,并与第一突出结构相对应。
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