[发明专利]一种PCB测试治具及其制作方法有效
| 申请号: | 201210121640.9 | 申请日: | 2012-04-24 |
| 公开(公告)号: | CN102628878A | 公开(公告)日: | 2012-08-08 |
| 发明(设计)人: | 张柏勇 | 申请(专利权)人: | 景旺电子科技(龙川)有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 | 代理人: | 王永文;刘文求 |
| 地址: | 517333 广东省河*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 pcb 测试 及其 制作方法 | ||
1.一种PCB测试治具,用于对PCB线路板进行电性测试,其特征在于,所述PCB测试治具包括:
基板、所述基板包括依次叠置的第一铜层、镍层和第二铜层;
设置在所述第二铜层上的第一突出结构、所述第一突出结构与PCB线路板上的测试点相对应;
填充在第一突出结构之间的树脂;
用于与PCB线路板上的测试点之间接触的第二突出结构、所述第二突出结构设置在所述第一铜层上,并与第一突出结构相对应。
2.根据权利要求1所述的PCB测试治具,其特征在于,所述第一铜层的厚度范围为17um到35um之间;第二铜层的厚度范围为50um到150um之间,镍层的厚度为5um到10um之间。
3.根据权利要求1所述的PCB测试治具,其特征在于,还包括在所述第一铜层表面涂覆的防焊层。
4.一种PCB测试治具的制作方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
S1、将第一铜层、镍层和第二铜层依次叠置,形成基板;
S2、根据需要测试的PCB板对所述第二铜层进行图形转移,然后进行蚀刻,形成与PCB上测试点相对应的第一突出结构;
S3、利用树脂填充蚀刻出的间隙,并对树脂表面进行研磨,使第一突出结构显露出来;
S4、完成树脂研磨后,对所述基板进行沉铜板电处理;
S5、再根据需要测试的PCB板对所述第一铜层进行图形转移,然后进行蚀刻,形成与所述第一突出结构相同的第二突出结构。
5.根据权利要求4所述的PCB测试治具的制作方法,其特征在于,还包括步骤S6、在所述第一铜层表面涂覆防焊层,再对表面进行处理,使第二突出结构显露出来。
6.根据权利要求4所述的PCB测试治具的制作方法,其特征在于,在所述步骤S4中,沉铜板电处理时,电镀的面铜的厚度在20um以上。
7.根据权利要求4或6所述的PCB测试治具的制作方法,其特征在于,所述第一铜层的厚度范围为17um到35um之间;第二铜层的厚度范围为50um到150um之间,镍层的厚度为5um到10um之间。
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