[发明专利]一种PCB测试治具及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201210121640.9 申请日: 2012-04-24
公开(公告)号: CN102628878A 公开(公告)日: 2012-08-08
发明(设计)人: 张柏勇 申请(专利权)人: 景旺电子科技(龙川)有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 代理人: 王永文;刘文求
地址: 517333 广东省河*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 pcb 测试 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种PCB测试治具,用于对PCB线路板进行电性测试,其特征在于,所述PCB测试治具包括: 

基板、所述基板包括依次叠置的第一铜层、镍层和第二铜层;

设置在所述第二铜层上的第一突出结构、所述第一突出结构与PCB线路板上的测试点相对应;

填充在第一突出结构之间的树脂;

用于与PCB线路板上的测试点之间接触的第二突出结构、所述第二突出结构设置在所述第一铜层上,并与第一突出结构相对应。

2.根据权利要求1所述的PCB测试治具,其特征在于,所述第一铜层的厚度范围为17um到35um之间;第二铜层的厚度范围为50um到150um之间,镍层的厚度为5um到10um之间。

3.根据权利要求1所述的PCB测试治具,其特征在于,还包括在所述第一铜层表面涂覆的防焊层。

4.一种PCB测试治具的制作方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

S1、将第一铜层、镍层和第二铜层依次叠置,形成基板;

S2、根据需要测试的PCB板对所述第二铜层进行图形转移,然后进行蚀刻,形成与PCB上测试点相对应的第一突出结构;

S3、利用树脂填充蚀刻出的间隙,并对树脂表面进行研磨,使第一突出结构显露出来;

S4、完成树脂研磨后,对所述基板进行沉铜板电处理;

S5、再根据需要测试的PCB板对所述第一铜层进行图形转移,然后进行蚀刻,形成与所述第一突出结构相同的第二突出结构。

5.根据权利要求4所述的PCB测试治具的制作方法,其特征在于,还包括步骤S6、在所述第一铜层表面涂覆防焊层,再对表面进行处理,使第二突出结构显露出来。

6.根据权利要求4所述的PCB测试治具的制作方法,其特征在于,在所述步骤S4中,沉铜板电处理时,电镀的面铜的厚度在20um以上。

7.根据权利要求4或6所述的PCB测试治具的制作方法,其特征在于,所述第一铜层的厚度范围为17um到35um之间;第二铜层的厚度范围为50um到150um之间,镍层的厚度为5um到10um之间。

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