[发明专利]防尘薄膜、其制造方法以及用该膜贴付的防尘薄膜组件有效
申请号: | 201210091249.9 | 申请日: | 2012-03-30 |
公开(公告)号: | CN102736400A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 関原一敏 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
主分类号: | G03F1/48 | 分类号: | G03F1/48;G03F1/46 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人: | 王勇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种将含有i线、h线、g线的350至450nm的波长领域的紫外线进行照射的光刻工程中适宜的,便宜的耐光性优良的防尘薄膜。本发明的薄膜是在用350至450nm的波长领域的紫外线进行照射的光刻工程中被使用防尘薄膜组件用防尘薄膜。该防尘薄膜的特征是,在原料防尘薄膜的至少曝光光源侧的表面,对350至450nm的波长领域的紫外线的平均透过率为90%以上,同时有对200至300nm的波长领域的紫外线的平均透过率为50%以下的紫外线吸收层。 | ||
搜索关键词: | 防尘 薄膜 制造 方法 以及 膜贴付 组件 | ||
【主权项】:
一种防尘薄膜,其在350至450nm的波长领域的紫外线照射光刻中被用于在防尘薄膜组件,其特征在于,该防尘薄膜是,其原料防尘薄膜的至少在曝光光源侧的表面上有紫外线吸收层,上述350至450nm的波长领域的紫外线在该紫外线吸收层的透过率为在该波长领域平均90%以上,同时200至300nm的紫外线的在该紫外线吸收层的透过率为在该波长领域中平均50%以下。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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