[发明专利]检查发光二极管的设备及使用该设备的检查方法有效
| 申请号： | 201210086528.6 | 申请日： | 2012-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN102721694A | 公开（公告）日： | 2012-10-10 |
| 发明（设计）人： | 池元秀;权五锡;金秋浩 | 申请（专利权）人： | 三星LED株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 韩明星 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开了一种发光二极管(LED)检查设备和LED检查方法。发光二极管(LED)检查设备包括：至少一个LED，包括涂覆在发射表面上的磷光体；第一照明单元，将可见光发射至LED；第二照明单元，将紫外(UV)光发射至LED；拍摄单元，通过对从LED反射的可见光拍摄来产生至少一个第一图像数据，并通过对从LED反射的UV光拍摄来产生至少一个第二图像数据；确定单元，利用所述至少一个第一图像数据和所述至少一个第二图像数据来确定LED的外观和发射特性的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 发光二极管 设备 使用 方法 | ||
【主权项】：
一种发光二极管检查设备，所述发光二极管检查设备包括：至少一个发光二极管，包括涂覆在发射表面上的磷光体；第一照明单元，将可见光发射至发光二极管；第二照明单元，将紫外光发射至发光二极管；拍摄单元，通过对从发光二极管反射的可见光拍摄来产生至少一个第一图像数据，并通过对从发光二极管反射的紫外光拍摄来产生至少一个第二图像数据；确定单元，利用所述至少一个第一图像数据和所述至少一个第二图像数据来确定发光二极管的外观和发射特性的缺陷。
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