[发明专利]检查发光二极管的设备及使用该设备的检查方法

权利要求书

1.一种发光二极管检查设备，所述发光二极管检查设备包括：

至少一个发光二极管，包括涂覆在发射表面上的磷光体；

第一照明单元，将可见光发射至发光二极管；

第二照明单元，将紫外光发射至发光二极管；

拍摄单元，通过对从发光二极管反射的可见光拍摄来产生至少一个第一图像数据，并通过对从发光二极管反射的紫外光拍摄来产生至少一个第二图像数据；

确定单元，利用所述至少一个第一图像数据和所述至少一个第二图像数据来确定发光二极管的外观和发射特性的缺陷。

2.如权利要求1所述的发光二极管检查设备，所述发光二极管检查设备还包括分束单元，用来反射发射的可见光并将反射的可见光透射至发光二极管，并通过透射从发光二极管反射的可见光将该可见光提供至拍摄单元。

3.如权利要求1所述的发光二极管检查设备，其中，从发光二极管反射的紫外光包含通过发光二极管和磷光体对波长进行转换的波长转换后的光。

4.如权利要求3所述的发光二极管检查设备，所述发光二极管检查设备还包括设置在发光二极管的上部以使包含在从发光二极管反射的紫外光中的波长转换后的光穿过并过滤紫外光的滤色器。

5.如权利要求4所述的发光二极管检查设备，其中，拍摄单元通过对穿过滤色器的波长转换后的光拍摄以产生第二图像数据。

6.如权利要求1所述的发光二极管检查设备，其中，确定单元通过第一图像数据检测发光二极管的对准状态并根据对准状态确定二极管的存在。

7.如权利要求6所述的发光二极管检查设备，其中，当确定二极管存在时，确定单元将第一图像数据与第一参考图像数据进行比较，并且当第一图像数据与第一参考图像数据不同时，确定单元确定发光二极管具有有缺陷的外观。

8.如权利要求7所述的发光二极管检查设备，其中，当确定发光二极管具有正常的外观时，确定单元将第二图像数据分为多个区并计算包括在所述多个区中的像素的平均像素值，并且当平均像素值不在容差范围内时，确定单元确定发光二极管具有有缺陷的发射特性。

9.如权利要求8所述的发光二极管检查设备，其中，当平均像素值在容差范围内时，确定单元对第二图像数据进行图像处理，并将图像处理后的第二图像数据与第二参考图像数据进行比较，当图像处理后的第二图像数据与第二参考图像数据不同时，确定单元确定发光二极管具有有缺陷的发射特性。

10.如权利要求1所述的发光二极管检查设备，所述发光二极管检查设备还包括：

显示单元，显示由拍摄单元产生的第一图像数据和第二图像数据；

存储单元，利用由确定单元对与外观和发射特性的缺陷相关的确定结果对第一图像数据和第二图像数据映射，并储存映射结果。

11.一种发光二极管检查方法，所述发光二极管检查方法包括下述步骤：

将可见光发射至包括涂覆在发射表面上的磷光体的至少一个发光二极管；

通过对从发光二极管反射的可见光拍摄来产生至少一个第一图像数据；

将紫外光发射至发光二极管；

通过对从发光二极管反射的紫外光拍摄来产生至少一个第二图像数据；

利用第一图像数据和第二图像数据确定发光二极管的外观和发射特性的缺陷。

12.如权利要求11所述的发光二极管检查方法，其中，从发光二极管反射的紫外光包含通过发光二极管和磷光体对波长进行转换的波长转换后的光。

13.如权利要求11所述的发光二极管检查方法，其中，产生第二图像数据的步骤包括：

使包含在从发光二极管反射的紫外光中的波长转换后的光穿过并过滤紫外光；

通过对过滤后的波长转换后的光拍摄来产生第二图像数据。

14.如权利要求11所述的发光二极管检查方法，其中，确定缺陷的步骤包括：

通过第一图像数据检测发光二极管的对准状态，并根据对准状态确定二极管的存在；

当确定二极管存在时，将第一图像数据与第一参考图像数据进行比较；

当第一图像数据与第一参考图像数据不同时，确定发光二极管具有有缺陷的外观。