[发明专利]检查发光二极管的设备及使用该设备的检查方法

说明书

本申请要求于2011年3月28日在韩国知识产权局提交的第10-2011-0027761号韩国专利申请的权益，该申请的公开通过引用包含于此。

技术领域

本发明涉及一种用于发光二极管(LED)的检查设备以及一种使用该设备的检查方法，更具体地说，涉及一种用于通过检查LED的外观和发射特性来确定LED的劣等的检查设备以及一种使用该设备的检查方法。

背景技术

最初，发光二极管(LED)封装件起初用于发信号。近来，LED封装件被更加广泛地应用，例如，用于照明装置与移动电话或诸如液晶显示器(LCD)的大面积显示装置的背光单元(BLU)的光源。由于LED与普通的灯泡或荧光灯相比具有相对低的功耗和长寿命，所以对LED的需求日益增加。随着需求增加，LED的生产快速地增加。因此，在LED中出现缺陷的比例也在日益增加。因此，在将LED销售给消费者之前，执行对LED的外观和发射特性(称作光亮度(PL)特性)的检查。

已经执行使用肉眼或使用设备的视觉检查来防止将具有各种外部缺陷(例如外部损坏、污染等)的LED销售给消费者。然而，由于不能通过视觉检查来检查发射特性，所以需要对发射特性的专门检查。

可通过包括紫外(UV)灯的显微镜来执行对发射特性的检查。这里，显微镜通过机械地调节开闭器来控制从UV灯发射的光。然而，使用机械开闭器操作会阻碍对发射特性的高速检查。另外，会使设备的寿命缩短，同时UV灯增加初始费用以及维护费用。

发明内容

本发明的一方面提供一种通过同时确定LED的与外观和发射特性相关的缺陷来降低检查成本并且能够高速检查的检查设备以及一种使用该检查设备的检查方法。

根据本发明的一方面，提供一种发光二极管(LED)检查设备，所述LED检查设备包括：至少一个LED，包括涂覆在发射表面上的磷光体；第一照明单元，将可见光发射至LED；第二照明单元，将紫外(UV)光发射至LED；拍摄单元，通过对从LED反射的可见光拍摄来产生至少一个第一图像数据，并通过对从LED反射的UV光拍摄来产生至少一个第二图像数据；确定单元，利用所述至少一个第一图像数据和所述至少一个第二图像数据来确定LED的外观和发射特性的缺陷。

所述LED检查设备还可包括分束单元，用来反射发射的可见光并将反射的可见光透射至LED，并通过透射从LED反射的可见光将该可见光提供至拍摄单元。

从LED反射的UV光可包含波长被LED和磷光体转换的波长转换后的光。

LED检查设备还可包括设置在LED的上部以使包含在从LED反射的UV光中的波长转换后的光穿过并过滤UV光的滤色器。

拍摄单元可通过对穿过滤色器的波长转换后的光拍摄以产生第二图像数据。

确定单元可通过第一图像数据检测LED的对准状态并根据对准状态确定二极管的存在。

当确定二极管存在时，确定单元可将第一图像数据与第一参考图像数据比较，并且当第一图像数据与第一参考图像数据不同时，确定单元可确定LED的外观有缺陷。

当确定LED具有正常的外观时，确定单元可将第二图像数据分为多个区并计算包括在所述多个区中的像素的平均像素值，并且当平像素均值超出容差范围时，确定单元可确定LED的发射特性有缺陷。

当平均像素值在容差范围内时，确定单元可对第二图像数据进行图像处理，并可将图像处理后的第二图像数据与第二参考图像数据进行比较，当图像处理后的第二图像数据与第二参考图像数据不同时，确定单元确定LED的发射特性有缺陷。

LED检查设备还可包括：显示单元，显示由拍摄单元产生的第一图像数据和第二图像数据；存储单元，利用由确定单元对与外观和发射特性的缺陷相关的确定结果对第一图像数据和第二图像数据映射，并储存映射结果。

根据本发明的另一方面，提供了一种LED检查方法，该LED检查方法包括下述步骤：将可见光发射至包括涂覆在发射表面上的磷光体的至少一个LED；通过对从LED反射的可见光拍摄来产生至少一个第一图像数据；将紫外(UV)光发射至LED；通过对从LED反射的UV光拍摄来产生至少一个第二图像数据；利用第一图像数据和第二图像数据确定LED的外观和发射特性的缺陷。

从LED反射的UV光可包含波长被LED和磷光体转换的波长转换后的光。

产生第二图像数据的步骤可包括：使包含在从LED反射的UV光中的波长转换后的光穿过并过滤UV光；通过对过滤后的波长转换后的光拍摄来产生第二图像数据。