[发明专利]基于归一化延迟概率分布的小延迟缺陷测试方法无效
| 申请号： | 201210072638.7 | 申请日： | 2012-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN102621477A | 公开（公告）日： | 2012-08-01 |
| 发明（设计）人： | 冯建华;林志钦 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 | 代理人： | 贾晓玲 |
| 地址： | 100871*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于归一化延迟概率分布的小延迟缺陷测试方法，该方法包含三个部分：N-detect ATPG生成，归一化延迟概率计算和测试向量选取以及Top-off ATPG生成。本发明利用常规自动测试向量生成(ATPG)工具的N-detect测试向量源，考虑了工艺波动和工艺匹配等问题，选取归一化概率值最大的测试向量组成新的测试向量集，用来检测小延迟缺陷，提高由工艺波动和工艺匹配等引起的小延迟缺陷测试的有效性。相比于现有技术，本发明不仅可降低测试向量规模，而且可提高小延迟缺陷测试的有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 归一化 延迟 概率 分布 缺陷 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种基于归一化延迟概率分布的小延迟缺陷测试方法，其特征在于，包含三个部分：N‑detect ATPG生成，归一化延迟概率计算和测试向量选取以及Top‑off ATPG生成；其中，归一化延迟概率计算和测试向量选取过程包括两个步骤：1)综合电路网表，提取出相应标准单元的驱动和负载，蒙特卡洛分析生成标准单元延迟概率分布矩阵；2)读入电路网表，追踪某一测试向量敏化的所有路径，基于标准单元延迟概率分布矩阵计算出所有长路径的概率参数总和，计算归一化延迟概率参数，并选取归一化延迟概率参数最大的测试向量作为本次选取；之后更新余下测试向量的归一化延迟概率参数，再次选取归一化延迟概率参数最大的测试向量作为第二次选取，直到所有长路径都被敏化，选取出来的测试向量组成已选取测试向量集。
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