[发明专利]基于归一化延迟概率分布的小延迟缺陷测试方法

权利要求书

1.一种基于归一化延迟概率分布的小延迟缺陷测试方法，其特征在于，包含三个部分：N-detect ATPG生成，归一化延迟概率计算和测试向量选取以及Top-off ATPG生成；其中，归一化延迟概率计算和测试向量选取过程包括两个步骤：

1)综合电路网表，提取出相应标准单元的驱动和负载，蒙特卡洛分析生成标准单元延迟概率分布矩阵；

2)读入电路网表，追踪某一测试向量敏化的所有路径，基于标准单元延迟概率分布矩阵计算出所有长路径的概率参数总和，计算归一化延迟概率参数，并选取归一化延迟概率参数最大的测试向量作为本次选取；之后更新余下测试向量的归一化延迟概率参数，再次选取归一化延迟概率参数最大的测试向量作为第二次选取，直到所有长路径都被敏化，选取出来的测试向量组成已选取测试向量集。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，蒙特卡洛分析标准单元时，需要先提取出该标准单元特定的驱动和负载，作为蒙特卡洛分析的属性。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，N-detect ATPG是采用常规ATPG工具，设置为N-detect的跳变延迟故障生成。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，Top-off ATPG生成包括：先故障模拟已选取测试向量集，导出未检测故障集，确认故障覆盖率是否满足要求，如果未满足，则用1-detectATPG生成未检测故障的测试向量，综合已选取测试向量集和1-detect ATPG生成的测试向量集，构成整体测试向量集。