[发明专利]一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置

摘要

一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置，该装置用于真空室内的航天材料样品进行空间环境模拟辐照后，不改变材料样品状态及真空环境，直接对材料样品进行光学透射率，反射率及漫反射率测量，该装置包括光源部分和样品室部分，光源部分包括第一反射镜组件、钨灯组件、第一透镜组件、氘灯组件、第二透镜组件、调制扇组件、单色仪、光源标定系统和连接波纹管，样品室部分包括测试样品、探测器组件、样品架组件、样品架运动组件、辐照入射口、积分球组件、积分球切换组件、光路切换反射镜组件和光线入射口，该装置避免了材料样品在转运过程中发生性能改变，能更真实的测量空间辐照对材料光学性能反射率，透射率及漫反射率的影响。

主权项

一种用于空间环境辐照测量的原位光学测量装置，其特征在于，该装置包括光源部分和样品室部分，所述光源部分包括第一反射镜组件(1)、钨灯组件(2)、第一透镜组件(3)、氘灯组件(4)、第二透镜组件(5)、调制扇组件(6)、单色仪(7)、光源标定系统和连接波纹管(11)，所述光源标定系统包括凹面反射镜组件(8)、平面反射镜组件(9)和光电倍增管组件(10)；所述样品室部分包括测试样品(12)、探测器组件(13)、样品架组件(14)、样品架运动组件(15)、辐照入射口(16)、积分球组件(17)、积分球切换组件(18)、光路切换反射镜组件(19)和光线入射口(20)；所述光源部分，钨灯组件(2)发出的光经第一反射镜组件(1)反射，反射后的光入射到第一透镜组件(3)，经第一透镜组件(3)汇聚后的光和氘灯组件(4)发出的光均入射到第二透镜组件(5)上，经第二透镜组件(5)聚焦的光进入调制扇组件(6)进行调制，调制后的光线进入单色仪(7)，经单色仪(7)分光后光线进入光源标定系统，经光源标定系统进行光源标定后的光通过连接波纹管(11)、光线入射口(20)和光路切换反射镜组件(19)进入样品室；所述样品架运动组件(15)将样品架组件(14)移动到真空室的后端，通过真空室的辐照入射口(16)用辐照装置对样品架组件(14)上的测试样品(12)进行真空模拟辐照，对测试样品(12)进行辐照后，样品架运动组件(15)将样品架组件(14)移动到真空室中间部位，通过样品架运动组件(15)转动样品架组件(14)及探测器组件(13)对测试样品(12)进行透射率及反射率测量，积分球切换组件(18)驱动积分球组件(17)与样品架组件(14)配合对测试样品(12)进行漫反射率测量。