[发明专利]一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置无效
申请号: | 201210061742.6 | 申请日: | 2012-03-09 |
公开(公告)号: | CN102621107A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 刘世界;何玲平;王晓光;陈波 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01N21/59 | 分类号: | G01N21/59;G01N21/47;G01N21/55 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 南小平 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 航天 材料 空间 环境 辐照 测量 原位 光学 装置 | ||
1.一种用于空间环境辐照测量的原位光学测量装置,其特征在于,该装置包括光源部分和样品室部分,所述光源部分包括第一反射镜组件(1)、钨灯组件(2)、第一透镜组件(3)、氘灯组件(4)、第二透镜组件(5)、调制扇组件(6)、单色仪(7)、光源标定系统和连接波纹管(11),所述光源标定系统包括凹面反射镜组件(8)、平面反射镜组件(9)和光电倍增管组件(10);所述样品室部分包括测试样品(12)、探测器组件(13)、样品架组件(14)、样品架运动组件(15)、辐照入射口(16)、积分球组件(17)、积分球切换组件(18)、光路切换反射镜组件(19)和光线入射口(20);所述光源部分,钨灯组件(2)发出的光经第一反射镜组件(1)反射,反射后的光入射到第一透镜组件(3),经第一透镜组件(3)汇聚后的光和氘灯组件(4)发出的光均入射到第二透镜组件(5)上,经第二透镜组件(5)聚焦的光进入调制扇组件(6)进行调制,调制后的光线进入单色仪(7),经单色仪(7)分光后光线进入光源标定系统,经光源标定系统进行光源标定后的光通过连接波纹管(11)、光线入射口(20)和光路切换反射镜组件(19)进入样品室;所述样品架运动组件(15)将样品架组件(14)移动到真空室的后端,通过真空室的辐照入射口(16)用辐照装置对样品架组件(14)上的测试样品(12)进行真空模拟辐照,对测试样品(12)进行辐照后,样品架运动组件(15)将样品架组件(14)移动到真空室中间部位,通过样品架运动组件(15)转动样品架组件(14)及探测器组件(13)对测试样品(12)进行透射率及反射率测量,积分球切换组件(18)驱动积分球组件(17)与样品架组件(14)配合对测试样品(12)进行漫反射率测量。
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