[发明专利]一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置。

背景技术

很多用于航天的成像仪器在空间飞行一段时间后，成像质量会有所下降，其中最重要的原因之一是空间的环境辐照使光学器件的光学性能发生变化。因此需要通过对材料辐照前后的光学性能进行检测，通过检测结果的对比分析辐照对材料光学性能的影响。从而可以选择适合不同空间环境的光学材料用于航天的成像仪器。

常规的测量方法是在真空环境中进行模拟空间辐照后，将样品拿到不同的仪器再分别进行光学透射率、反射率及漫反射率测量。这种测量方法改变了样品辐照后的环境，而且经过非真空环境的转运会造成样品性能的变化，就会产生测量误差，不能真实反映空间辐照对材料光学性能的影响。

发明内容

本发明目的是提供一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置，该装置用于真空室内的航天材料样品进行空间环境模拟辐照后，不改变材料的样品状态及真空环境，直接对材料样品进行光学透射率，反射率及漫反射率测量。

为实现上述目的，本发明提供的一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置，包括光源部分和样品室部分，所述光源部分包括第一反射镜组件、钨灯组件、第一透镜组件、氘灯组件、第二透镜组件、调制扇组件、单色仪、光源标定系统和连接波纹管，所述光源标定系统包括凹面反射镜组件、平面反射镜组件和光电倍增管组件；所述样品室部分包括测试样品、探测器组件、样品架组件、样品架运动组件、辐照入射口、积分球组件、积分球切换组件、光路切换反射镜组件和光线入射口；所述光源部分，钨灯组件发出的光经第一反射镜组件反射，反射后的光入射到第一透镜组件，经第一透镜组件汇聚的光和氘灯组件发出的光均入射到第二透镜组件，经第二透镜组件聚焦的光进入调制扇组件进行调制，调制后的光线进入单色仪，经单色仪分光后光线进入光源标定系统，由光源标定系统进行光源标定后的光通过连接波纹管、光线入射口和光路切换反射镜组件进入样品室；样品架运动组件将样品架组件移动到真空室的后端，通过真空室的辐照入射口用辐照装置对样品架组件上的测试样品进行真空模拟辐照，对测试样品进行辐照后，样品架运动组件将样品架组件移动到真空室中间部位，通过样品架运动组件转动样品架组件及探测器组件对测试样品进行透射率及反射率测量，积分球切换组件驱动积分球组件与样品架组件配合对测试样品进行漫反射率测量。

本发明的有益效果是：本发明装置用于真空室内的航天材料多个样品进行空间环境模拟辐照后，不改变材料的样品状态及真空环境，直接对材料多个样品进行光学透射率，反射率及漫反射率测量，避免了材料样品在转运过程中发生性能改变，能更真实的测量空间辐照对材料光学性能反射率，透射率及漫反射率的影响。

附图说明

图1为本发明的光源部分示意图；

图2为本发明的真空室部分示意图；

图3为本发明进行样品的透射率测量示意图；

图4为本发明进行样品的反射率测量示意图；

图5为本发明进行样品的漫反射测量示意图。

图中，1、第一反射镜组件，2、钨灯组件，3、第一透镜组件，4、氘灯组件，5、第二透镜组件，6、调制扇组件，7、单色仪，8、凹面反射镜组件，9、平面反射镜组件，10、光电倍增管组件，11、连接波纹管，12、测试样品，13、探测器组件，14、样品架组件，15、样品架运动组件，16、辐照入射口，17、积分球组件，18、积分球切换组件，19、光路切换反射镜组件，20、光线入射口。

具体实施方式

下面通过附图说明和具体实施方式对本发明作进一步详细说明。