[发明专利]齐纳二极管的制造方法有效
申请号: | 201210046164.9 | 申请日: | 2012-02-27 |
公开(公告)号: | CN102592995A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 梁博 | 申请(专利权)人: | 上海先进半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 200233 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种齐纳二极管的制造方法,包括:提供具有外延层的衬底;刻蚀外延层和部分厚度的衬底形成环形的第一深槽;在外延层上形成绝缘层,同时形成第一深槽填充;刻蚀外延层和部分厚度的衬底,在第一深槽填充包围的区域内形成至少一个第二深槽;在图形化的绝缘层上形成原位掺杂多晶硅,同时形成第二深槽填充;对衬底进行退火工艺形成扩散区域,扩散区域和衬底构成齐纳二极管的PN结;刻蚀原位掺杂多晶硅层形成图形化的多晶硅,作为齐纳二极管的阴极;在衬底的背面形成金属层,作为齐纳二极管的阳极。本发明通过深槽工艺代替传统的高温扩散的方法,可以大大减小器件的面积,提高集成电路的集成度。 | ||
搜索关键词: | 齐纳二极管 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种齐纳二极管的制造方法,包括:提供衬底,所述衬底包括正面以及与正面相对的背面,所述衬底的正面上形成有外延层;刻蚀所述外延层和部分厚度的衬底形成第一深槽,所述第一深槽为环形;在所述外延层上形成绝缘层,同时填充所述第一深槽形成第一深槽填充;刻蚀所述外延层和部分厚度的衬底,在所述第一深槽填充包围的区域内形成至少一个第二深槽;在所述图形化的绝缘层上形成原位掺杂多晶硅,同时填充所述第二深槽形成第二深槽填充;对所述衬底进行退火工艺形成扩散区域,所述扩散区域和衬底构成齐纳二极管的PN结;刻蚀所述原位掺杂多晶硅层形成图形化的多晶硅,所述图形化的多晶硅作为齐纳二极管的阴极;在所述衬底的背面形成金属层,所述金属层作为齐纳二极管的阳极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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