[发明专利]电路检测方法及系统有效
申请号: | 201210045526.2 | 申请日: | 2012-02-27 |
公开(公告)号: | CN103257312A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 洪莉婷;林凤玲 | 申请(专利权)人: | 纬创资通股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/316 | 分类号: | G01R31/316 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种电路检测方法及系统,该电路检测方法包括有以下步骤:依据模拟电路显示测试画面,而测试画面包括有多个第一图像及多个第二图像,其中各第一图像分别代表模拟电路中的各导通点,而各第二图像分别代表模拟电路中的各非导通点;放大多个第二图像至一预定宽度;检视是否有一封闭区域被隔离形成,其中封闭区域由放大后的多个第二图像中的其中一部分围绕而隔离形成,其中若无封闭区域形成,则判断依照该模拟电路制成的一电路板为正常,而若有封闭区域形成,则判断该电路板上对应封闭区域内的区域为一疑似异常区域。 | ||
搜索关键词: | 电路 检测 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种电路检测方法,其特征在于,所述的电路检测方法是以通过测试一模拟电路的方式判断依照所述模拟电路制成的一电路板是否异常,所述电路检测方法包括以下步骤:依据所述模拟电路显示一测试画面,所述测试画面包括多个第一图像及多个第二图像,其中各所述第一图像分别代表所述模拟电路中的各导通点,而各所述第二图像分别代表所述模拟电路中的各非导通点;放大所述多个第二图像至一预定宽度;检视是否有一封闭区域被隔离形成,其中所述封闭区域是由放大后的所述多个第二图像中的其中一部分围绕而隔离形成;以及若否,则判断所述电路板为正常;若是,则判断所述电路板上对应所述封闭区域内的一区域为一疑似异常区域。
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