[发明专利]电路检测方法及系统有效

专利信息
申请号: 201210045526.2 申请日: 2012-02-27
公开(公告)号: CN103257312A 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 洪莉婷;林凤玲 申请(专利权)人: 纬创资通股份有限公司
主分类号: G01R31/316 分类号: G01R31/316
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 任默闻
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 电路 检测 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明是关于一种电路检测方法及系统,特别是一种以通过动态放大分析一模拟电路的方式,以判断依循该模拟电路制成的电路板是否会有部分区域通过电流不足的现象产生的电路检测方法及系统。

背景技术

当于电路板线路的设计中遇有回路型讯号时,如图1所示,通常布局的第一图像91分别代表模拟电路90中的各导通点(即白色虚线的圆圈,Thermal PAD)会被第二图像92分别代表模拟电路90中的各非导通点包围(即黑色圆圈,Isolation PAD);而当黑色箭头指示的间隙宽度过于狭窄或是小于1密尔(mil)时,将导致可通过被包围区域内的电流过小、不足或甚至无法导通的现象,造成系统无法正常运作或不稳定甚至无法开机,而此问题的产生,由于不是单点接线的接地层及电源层发生异常,因此以目前现有的软件测试工具是无法及时检测出异常,也因此当遇到生产经验较少或能力较差的厂商时,无法于工艺中发觉时,则制成的产品的讯号品质即会有高有低或不稳定。

而为避免前述情形发生,现行的解决方式,均是在以软件设计的最后阶段,先产出一种版本的数据,再以其他工具或人工的方式进行确认,惟此时多已接近设计完成之时,能修改的时间有限,故于确认时可能会有所遗漏。因此,实有必要发明一种新的测试方法及系统,以改善现有技术的缺失。

发明内容

本发明的主要目的是在提供一种以通过测试模拟电路的方式,判断依循该模拟电路制成的电路板是否会产生异常的电路检测方法。

本发明的另一主要目的是在提供一种可用以完成上述方法的电路检测系统。

为达成上述的目的,本发明的电路检测方法是以通过测试模拟电路的方式判断依照该模拟电路制成的电路板是否异常,本发明的电路检测方法包括有以下步骤:依据模拟电路显示测试画面,而测试画面包括有多个第一图像及多个第二图像,其中各第一图像分别代表模拟电路中的各导通点,而各第二图像分别代表模拟电路中的各非导通点;放大多个第二图像至预定宽度;检视是否有封闭区域被隔离形成,其中封闭区域是由放大后的多个第二图像中的其中一部分围绕而隔离形成,其中若无封闭区域形成,则判断电路板为正常,而若有封闭区域形成,则判断电路板上对应封闭区域内的区域为疑似异常区域。

依据本发明的一实施例,本发明的电路检测方法更可通过以下步骤计算出形成封闭区域的各第二图像放大前两两相互间隔的多个通道的各间距值,藉以根据该间距总和值判定一预估电流值:

于每次放大多个第二图像后,检视多个第二图像两两相互间隔的多个通道的数量是否减少;若无减少,则判断多个第二图像是否已放大至预定宽度,其中若已放大至预定宽度时,检视是否有封闭区域被隔离形成;若尚未放大至预设宽度时,则再一次放大多个第二图像;若多个通道的数量有减少,则确认多个通道中的其中一通道消失时的一定点坐标位置,并根据该定点坐标位置判断位于该定点坐标位置上的两第二图像的中心坐标位置;计算位于定点坐标位置上的两第二图像放大前的相互间隔的通道的间距值;记录定点坐标位置上的两第二图像的中心坐标位置及间距值。藉由上述的步骤,当于放大到预定宽度而有封闭区域形成时,依据每次放大后而有记录的所述中心坐标位置及各间距值中,将形成封闭区域的各第二图像两两相互间隔的各通道的各间距值相加,以取得间距总和值。

依据本发明的一实施例,本发明的电路检测方法更可通过以下步骤判断出电路板上对应封闭区域内的区域是否为异常:

依据被包围在封闭区域内的至少一第一图像所代表的至少一导通点所需的至少一需求电流值,以计算需通过封闭区域内的需求总电流值;根据预估电流值及需求总电流值,判断电路板上对应封闭区域内的区域是否异常;其中,若预估电流值大于或等于需求总电流值时,则判断该区域为正常,若预估电流值小于需求总电流值时,则判断该区域为异常。

本发明的电路检测系统包括有显示模块、放大模块、检视模块、判断模块、运算模块及存储器,其中运算模块包括有定位模块以及计算模块。藉由以上各模块,使得本发明的电路检测系统可用以完成本发明的电路检测方法。

附图说明

图1是本发明的电路检测系统的现有技术于检测时的测试画面的示意图。

图2是本发明的电路检测系统的系统架构图。

图3是本发明的电路检测方法的步骤流程图。

图4是本发明的电路检测系统于检测时的测试画面而测试画面中的第二图像原始状态时的示意图。

图5是本发明的电路检测系统于检测时的测试画面而测试画面中的第二图像被放大2mil时的示意图。

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